Rohde & Schwarz rückt auf der embedded world 2011 seine Oszilloskope in den Mittelpunkt

22.12.2010 - Rohde & Schwarz zeigt auf der embedded world 2011 in Nürnberg vom 1. bis zum 3. März 2011 die Oszilloskope der Produktfamilien R&S®RTO und R&S®RTM. Sie sind in unterschiedlichen Applikationen auf dem Stand 419 in Halle 10 zu besichtigen.

Mit dem Launch dieser Oszilloskop-Familien hat Rohde & Schwarz im letzten Jahr ein völlig neues Marktsegment betreten. Die High-Performance-Oszilloskope der R&S®RTO-Familie sind auf Geschwindigkeit und Signaltreue ausgerichtet. Die Geräte bieten eine Abtastrate von bis zu 10 GSample/s pro Kanal und Bandbreiten von 2 GHz, können bis zu 1 Million Messkurven pro Sekunde analysieren und selbst seltene Fehler sofort sichtbar werden lassen. Zudem führt das erstmals in einem Oszilloskop realisierte digitale Triggersystem zu sehr kleinem Trigger-Jitter.

Die Universal-Oszilloskope R&S®RTM von Rohde & Schwarz sind wegen sehr guter Messeigenschaften, großem Funktionsumfang und kompaktem Design die erste Wahl im Messalltag. 500 MHz Bandbreite, 5 GSample/s maximale Abtastrate und bis zu 8 MSample Speichertiefe sind ideal für das Testen und Debuggen von Analog- und Digitalschaltungen mit niedrigen Taktraten. Beide Oszilloskop-Familien schaffen mit ihrer innovativen, durchdachten Bedienoberfläche auch bei komplexen Messungen den perfekten Überblick.

Messe-Besucher können sich am Rohde & Schwarz-Stand von der komfortablen, interaktiven Bedienung des R&S RTO via Touch-Screen selbst überzeugen.