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121 Resultados

Relevancia

Jul 17, 2024 | Comunicado de prensa

With first ASIC-based zone triggering for MXO oscilloscopes, Rohde & Schwarz breaks acquisition rate records

Rohde & Schwarz introduces the industry’s first ASIC-based zone triggering for the MXO oscilloscope series. It can offer the world’s fastest zone trigger update rate of up to 600.000 waveforms per second and less than 1.45 us blind time between trigger events.

Aug 14, 2023 | Comunicado de prensa

Rohde & Schwarz sponsors HORYZN and LEVITUM student initiatives with test equipment for drone development

As a gold sponsor, Rohde & Schwarz provides test equipment to the HORYZN and LEVITUM student initiatives of the Technical University of Munich (TUM) to help with drone development. The students at TUM are working hard to develop, build and test vertical takeoff and landing drones for various applications.

Jan 23, 2025 | Comunicado de prensa

Rohde & Schwarz presents R&S ScopeStudio, a PC-based oscilloscope solution to boost development teams

Rohde & Schwarz launches R&S ScopeStudio, an innovative application that brings the functionality of the MXO series oscilloscopes to a PC. It allows engineers to visualize, analyze, document and share oscilloscope measurements, making development teams more efficient.

May 27, 2024 | Comunicado de prensa

Rohde & Schwarz presents its solutions for next generation wide bandgap device test and debug at PCIM Europe

Rohde & Schwarz will showcase its latest solutions for power electronics testing at PCIM Europe in Nuremberg, addressing challenges of testing and debugging the next generation of wide bandgap semiconductors in power electronic converters.

Jun 11, 2024 | Comunicado de prensa

Rohde & Schwarz presents R&S RT-ZISO isolated probing system for precise measurements of fast switching signals

Rohde & Schwarz has developed the R&S RT-ZISO isolated probing system for extremely accurate measurements of fast switching signals, especially in environments with high common-mode voltages and currents.

Apr 30, 2025 | Comunicado de prensa

Rohde & Schwarz pioneers the future of automotive Ethernet using Analog Devices’ 10BASE-T1S solutions

Rohde & Schwarz pioneers the future of automotive Ethernet using Analog Devices’ 10BASE-T1S solutions

Oct 12, 2022 | Comunicado de prensa

Rohde & Schwarz empowers launch of 4D imaging radar platform by automotive radar manufacturer Cubtek in partnership with NXP

Cubtek Inc. is using network analyzers from Rohde & Schwarz in the development of 4D imaging radar for RF measurement of the E-band. Rohde & Schwarz oscilloscopes and their independently developed, application-specific integrated circuits (ASIC) provide the best measurement tools for automotive radar research and development.

Feb 13, 2025 | Comunicado de prensa

Rohde & Schwarz showcases its advanced test solutions for embedded systems at embedded world 2025

Rohde & Schwarz will present its advanced test and measurement solutions for the embedded industry at the embedded world, to tackle the emerging challenges in all embedded systems: From energy efficiency and electromagnetic interference to digital design and connectivity.

R&S®RT-Zxx Standard Probes - Specifications

R&S RT-Zxx Standard Probes - Specifications

R&S®RT-Zxx Standard Probes - Specifications
Medición del factor de rechazo a fuente de poder

La opción de análisis de respuesta en frecuencia R&S®RTx-K36 supone una alternativa económica a los analizadores de redes de baja frecuencia o los analizadores de frecuencia independientes y específicos.

dic 18, 2018

Mar 26, 2024 | Comunicado de prensa

embedded world 2024: Rohde & Schwarz presents its cutting-edge test solutions for embedded systems

Rohde & Schwarz offers comprehensive test and measurement solutions for embedded design challenges for today’s requirements for efficiency, safety, reliability and interoperability. The highlights will be showcased at the embedded world Exhibition & Conference 2024 in Nuremberg, Germany.

Mediciones de respuesta del bucle de control de la fuente de poder (diagrama de Bode)

La opción de análisis de respuesta en frecuencia R&S®RTx-K36 (diagrama de Bode) visualiza la respuesta del sistema frente a cambios de las condiciones de operación, p. ej. del voltaje de alimentación.

ago 13, 2024

R&S®RT-Zxx High Bandwidth Probes - Specifications

R&S RT-Zxx High Bandwidth Probes - Specifications

R&S®RT-Zxx High Bandwidth Probes - Specifications
Selecting your next oscilloscope: Why fast update rate matters | 选择下一代示波器: 为什么更高的波形捕获率很重要 - White Paper

Selecting your next oscilloscope: Why fast update rate matters | 选择下一代示波器: 为什么更高的波形捕获率很重要 - White Paper Folletos y fichas técnicas White Paper

Selecting your next oscilloscope: Why fast update rate matters | 选择下一代示波器: 为什么更高的波形捕获率很重要 - White Paper
Selecting your next oscilloscope: Why digital triggering matters - White Paper

This document provides: - An explanation of analog versus digital triggering architectures - User advantages for oscilloscopes that have digital triggering - How to determine if an oscilloscope has a digital or analog trigger

Selecting your next oscilloscope: Why digital triggering matters - White Paper
Selecting your next oscilloscope: Why fast update rate matters - White Paper

This document provides: - An explanation of update rate - How users can quickly perform their own update rate characterization - How to compare vendor update rates - Benefits of fast update rate

Selecting your next oscilloscope: Why fast update rate matters - White Paper
Selecting your next oscilloscope: Why digital triggering matters | 选择下一代示波器: 数字触发的重要性 - White Paper

本白皮书包含以下内容:- 模拟和数字触发架构 - 数字触发示波器的优势 - 如何辨别数字或模拟触发示波器

Selecting your next oscilloscope: Why digital triggering matters | 选择下一代示波器: 数字触发的重要性 - White Paper
Reduzca el tiempo de prueba de sus equipos de prueba automáticos (ATE) con la salida de disparo (trigger-out)

Reduzca el tiempo de prueba de sus equipos de prueba automáticos (ATE) con la salida de disparo (trigger-out)

may 30, 2024

Understanding oscilloscope ENOB Values

Selecting Your Next Oscilloscope:

If you are selecting your next oscilloscope and want more insight on how to understand ENOB values measured and published by oscilloscope manufacturers, this document is for you. The effective number of bits (ENOB) is a way of quantifying the quality of analog to digital conversion. A higher ENOB means that voltage levels recorded in analog to digital conversion are more accurate. Understanding oscilloscope vendor-supplied ENOB values can be complex. This document focuses on interpretation of measured ENOB results made on oscilloscopes rather than the math behind ENOB calculations.

Jun 21, 2024 | N.º de nota de aplicación 1TD12

R&S®ScopeStudio Software - Flyer

Oscilloscope application software for PCs: Enhance your oscilloscope experience

R&S®ScopeStudio Software - Flyer
R&S®RT-ZM Modular Probe System | モジュラープローブ・システム - Flyer

このR&S®RT-ZM モジュラープローブ・システムは、現在のプロービング要件に対応する、高度な技術と使いやすさを兼ね備えたソリューションです。

R&S®RT-ZM Modular Probe System | モジュラープローブ・システム - Flyer
R&S®RT-ZM Modular Probe System | 모듈러 프로브 시스템 - Flyer

R&S®RT-ZM Modular Probe System은 정교한 기술과 간단한 사용법으로 오늘날의 프로빙 요구 사항을 해결합니다.

R&S®RT-ZM Modular Probe System | 모듈러 프로브 시스템 - Flyer
R&S®RT-ZM Modular Probe System - Flyer

The R&S®RT-ZM modular probe system addresses current probing requirements with a technologically sophisticated yet easy-to-use solution.

R&S®RT-ZM Modular Probe System - Flyer
Oscilloscope Buyer's Guide | How to choose an oscilloscope - Flyer

This guide covers the most important aspects of selecting an oscilloscope and provides you with the knowledge to make the best choice for your needs.

Oscilloscope Buyer's Guide | How to choose an oscilloscope - Flyer
Selecting your next oscilloscope: Why deep memory matters - White Paper

This document provides: - A description of how oscilloscope acquisition memory is defined - Insight into the relationship between memory and other oscilloscope parameters - Examples where deep memory provides value

Selecting your next oscilloscope: Why deep memory matters - White Paper
Selecting your next oscilloscope: Why deep memory matters | 选择下一代示波器: 深存储的重要性 - White Paper

本指南将介绍以下内容:- 示波器采集存储的定义 - 存储和其他示波器参数的关系 - 深存储的作用示例

Selecting your next oscilloscope: Why deep memory matters | 选择下一代示波器: 深存储的重要性 - White Paper
EMI precompliance solution navigator - Flyer

Choose the most suitable EMI debugging or precompliance solution

EMI precompliance solution navigator - Flyer
Oscilloscope innovation. Measurement confidence. | Инновационные осциллографы | Достоверные результаты измерений.

Oscilloscope innovation. Measurement confidence. | Инновационные осциллографы | Достоверные результаты измерений. Folletos y fichas técnicas Flyer

Oscilloscope innovation. Measurement confidence. | Инновационные осциллографы | Достоверные результаты измерений.
Oscilloscope innovation. Measurement confidence. - Flyer

Oscilloscope innovation. Measurement confidence. - Flyer Folletos y fichas técnicas Flyer

Oscilloscope innovation. Measurement confidence. - Flyer
Oscilloscope innovation. Measurement confidence. | オシロスコープの革新、測定の核心に迫る。 - Flyer

Oscilloscope innovation. Measurement confidence. | オシロスコープの革新、測定の核心に迫る。 - Flyer Folletos y fichas técnicas Flyer

Oscilloscope innovation. Measurement confidence. | オシロスコープの革新、測定の核心に迫る。 - Flyer
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