198 Resultados
Mediciones de corriente con alto rango dinámico en dispositivos del IoT
Medidas de corriente con alto rango dinámico en dispositivos IoT
oct 01, 2019
Mediciones de integridad de potencia rápidas y exactas
El incremento de la demanda en las redes de distribución de energía ha dado como resultado líneas de CC más pequeñas, así como la proliferación de líneas que aseguran que energía limpia llegue a los pines de los circuitos integrados.
mar 07, 2017
Análisis de problemas de EMI con R&S®RTO/R&S®RTE
El osciloscopio digital R&S®RTO/R&S®RTE es una excelente herramienta para analizar problemas de EMI en diseños electrónicos. La elevada sensibilidad de entrada, un gran rango dinámico y una funcionalidad FFT potente constituyen elementos esenciales para capturar y analizar emisiones no deseadas
feb 26, 2015
Tecnología de la comunicación de campo cercano (NFC) y sus mediciones
Tecnología de transmisión de datos en proximidad (NFC) y sus mediciones
jun 03, 2013 | N.º de nota de aplicación 1MA182
Oct 12, 2022 | Comunicado de prensa
Rohde & Schwarz empowers launch of 4D imaging radar platform by automotive radar manufacturer Cubtek in partnership with NXPCubtek Inc. is using network analyzers from Rohde & Schwarz in the development of 4D imaging radar for RF measurement of the E-band. Rohde & Schwarz oscilloscopes and their independently developed, application-specific integrated circuits (ASIC) provide the best measurement tools for automotive radar research and development.
Jul 11, 2022 | Comunicado de prensa
Rohde & Schwarz showcases its market-leading, reliable EMC test solutions at EMV in CologneAt the EMC event EMV in Cologne, Rohde & Schwarz demonstrates a comprehensive range of EMC test and measurement solutions – ranging from standalone instruments and software to application-specific systems. As a highlight, the company unveils an important enhancement to the R&S ESW EMI test receiver, the new 1GHz bandwidth extension. The Rohde & Schwarz solutions are on display from July 12 to 14, 2022 at the Cologne exhibition center, hall 10.2, booth 112.
Métodos de verificación de circuitos snubber en convertidores de transferencia indirecta
La demanda por tener un circuito snubber en la topología de la fuente de poder conduce a métodos de verificación específicos durante el diseño los cuales son el enfoque principal del presente documento.
jun 23, 2021 | N.º de nota de aplicación 1SL363
Análisis de señales de banda ancha
Medir y analizar señales con la plataforma del analizador de señal y espectro R&S®FSW en colaboración con un osciloscopio digital R&S®RTO.
jun 16, 2015 | N.º de nota de aplicación 1EF92
Verifique la eficiencia energética de sus unidades de radio O-RAN
Verifique eficiencia energética de sus unidades de radio O-RAN
mar 19, 2024
Selecting your next oscilloscope: Why fast update rate matters | 选择下一代示波器: 为什么更高的波形捕获率很重要 - White Paper
Selecting your next oscilloscope: Why fast update rate matters | 选择下一代示波器: 为什么更高的波形捕获率很重要 - White Paper Folletos y fichas técnicas White Paper
Selecting your next oscilloscope: Why digital triggering matters - White Paper
This document provides: - An explanation of analog versus digital triggering architectures - User advantages for oscilloscopes that have digital triggering - How to determine if an oscilloscope has a digital or analog trigger
Selecting your next oscilloscope: Why fast update rate matters - White Paper
This document provides: - An explanation of update rate - How users can quickly perform their own update rate characterization - How to compare vendor update rates - Benefits of fast update rate
Selecting your next oscilloscope: Why digital triggering matters | 选择下一代示波器: 数字触发的重要性 - White Paper
本白皮书包含以下内容：- 模拟和数字触发架构 - 数字触发示波器的优势 - 如何辨别数字或模拟触发示波器
Verificación de integridad de potencia para memorias DDR
Verificación de integridad de potencia en memorias DDR: la sonda Power Rail R&S®RT-ZPR20 es una sonda de osciloscopio especializada para mediciones de energía con ruido muy bajo.
abr 05, 2017
Mar 01, 2023 | Comunicado de prensa
Embedded world 2023: Rohde & Schwarz showcases its state-of-the-art test solutions for embedded systemsEmbedded systems are at the core of today’s electronic devices, whether in consumer electronics, telecommunications, industrial, medical, automotive or aerospace applications. Flawless operation is crucial, and engineers face complex challenges when designing ever more compact embedded systems which meet today’s demands of efficiency, safety, reliability and interoperability. Rohde & Schwarz addresses these challenges with its wide-ranging test and measurement solutions showcased at the embedded world Exhibition & Conference 2023 in Nuremberg.
Análisis de integridad de señal para interfaces de comunicación de datos de alta velocidad
Los osciloscopios R&S®RTP y R&S®RTO pueden realizar la caracterización de interfaces datacom de alta velocidad, así como realizar análisis exhaustivos de integridad de señal.
jul 15, 2024
Decoding secondary surveillance radar
Secondary surveillance radar (SSR) bridges the gap between communications systems and classic radar systems. Despite the increasing capabilities of mobile communications, SSR remains a major component in airspace surveillance.
May 17, 2021
La importancia de una memoria profunda en los osciloscopios digitales
La importancia de una memoria profunda en los osciloscopios digitales - Los osciloscopios de Rohde & Schwarz ofrecen una profundidad de memoria sin igual en el mercado.
mar 21, 2017
Pruebas eficientes de diagrama de ojos para diseños de sistemas DDR3/DDR4
Para la verificación y depuración del sistema, las mediciones de diagramas de ojos son las herramientas más importantes para poder analizar eficientemente la integridad de la señal en cualquier diseño digital.
feb 19, 2019
Mediciones de impulsos de RF en los dominios del tiempo y de la frecuencia con el VSE-K6
Esta nota de aplicación se centra en las mediciones de señal con osciloscopios digitales R&S®RTO y la salida de datos I/Q para su procesamiento.
oct 18, 2016 | N.º de nota de aplicación 1MA249
Pruebas de señales MIMO LTE mediante un osciloscopio R&S®RTO
Pruebas de señales MIMO LTE mediante un osciloscopio R&S®RTO
abr 24, 2013 | N.º de nota de aplicación 1EF86
Análisis sincronizado en fase de señales MIMO de enlace descendente de 5G en el rango FR1
Esta nota de aplicación describe dos soluciones de prueba de R&S® para lidiar con los desafíos de análisis de señales MIMO de enlace descendente 5G FR1 ya sea usando el osciloscopio R&S®RTP/RTO o el sensor de potencia selectiva en frecuencia R&S®NRQ6.
jun 26, 2020 | N.º de nota de aplicación GFM343
Mediciones de alta resolución con los osciloscopios de R&S
Con la opción de RTO-K17/RTE-K17 de alta definición, el usuario podrá ver más detalles de las señales con hasta una resolución vertical de 16 bits.
abr 13, 2015 | N.º de nota de aplicación 1TD06
R&S®RT-ZM Modular Probe System | モジュラープローブ・システム - Flyer
このR&S®RT-ZM モジュラープローブ・システムは、現在のプロービング要件に対応する、高度な技術と使いやすさを兼ね備えたソリューションです。
R&S®RT-ZM Modular Probe System | 모듈러 프로브 시스템 - Flyer
R&S®RT-ZM Modular Probe System은 정교한 기술과 간단한 사용법으로 오늘날의 프로빙 요구 사항을 해결합니다.
R&S®RT-ZM Modular Probe System - Flyer
The R&S®RT-ZM modular probe system addresses current probing requirements with a technologically sophisticated yet easy-to-use solution.
Oscilloscope Buyer's Guide | How to choose an oscilloscope - Flyer
This guide covers the most important aspects of selecting an oscilloscope and provides you with the knowledge to make the best choice for your needs.
Optimizar la vida útil de la batería en dispositivos IoT gracias a una sonda de potencia multicanal
Esta nota de aplicación describe las mediciones de vida útil de baterías con la sonda multicanal R&S®RT-ZVC02/04. Las mediciones se describen usando un osciloscopio.
ene 17, 2019 | N.º de nota de aplicación 1TD07
Número eficaz de bits (ENOB) de un osciloscopio digital R&S
Número eficaz de bits (ENOB) de un osciloscopio digital R&S
may 13, 2011 | N.º de nota de aplicación 1ER03
Selecting your next oscilloscope: Why deep memory matters - White Paper
This document provides: - A description of how oscilloscope acquisition memory is defined - Insight into the relationship between memory and other oscilloscope parameters - Examples where deep memory provides value