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Vidéo, ZNA, mesures d'intermodulations sur un amplificateur Cette vidéo présente comment réaliser des mesures d'intermodulations sur des dispositifs sous test, dans le cas présent un amplificateur, sur le R&S®ZNA.
Jul 19, 2022 | Communiqués de presse
Rohde & Schwarz announces on-wafer device characterization test solutionRohde & Schwarz now offers a test solution for full RF performance characterization of the DUT on-wafer which combines the powerful R&S ZNA vector network analyzer from Rohde & Schwarz with industry-leading engineering probe systems from FormFactor. As a result, semiconductor manufacturers can perform reliable and repeatable on-wafer device characterization in the development phase, during product qualification and in production.
Load Pull, VNA, ZNA, Récepteur vectoriel, Tuner, caractérisation d'appareil La combinaison du logiciel Maury Microwave Tuners plus IV CAD avec l'analyseur de réseaux vectoriels R&S®ZNA facilite les mesures load-pull du récepteur vectoriel.
E-learning session Cette session de 30 minutes vous fait découvrir les basiques de notre analyseur de réseaux vectoriels, le ZNA. Lors de ce webinar nous parlerons de sa composition interne, de ses différents ports, de son interface utilisateur ainsi que de la calibration. Cette session de 30 minutes vous fait découvrir les basiques de notre analyseur de réseaux vectoriels, le ZNA.
Dans cette dernière vidéo, nous verrons un mode de mesure spécial où l'analyseur de réseaux vectoriels ZNA peut être utilisé pour analyser l'impulsion dans le temps, afin d'étudier ce qui se passe dans une résolution supérieure au cours du statut “on time” de l'impulsion RF. ZNA, Fondamentaux de l'impulsion Effectuer des mesures pulsées avec un analyseur de réseaux vectoriels
Calibration de deux voies simultanément avec des commandes à distance
Is it possible to automatically restart a ZNB with return of the AC power?
Export complex data of a trace with mathematics and time gating.
J'ai une ligne de limite existante. Est-il possible d'appliquer un décalage vertical ?
VNA – Ai-je vraiment besoin d'une correspondance glissante pour la calibration ?
Existe-t-il un moyen d'interroger les données de toutes les traces en une fois ?
Gets you started with the R&S®ZNXSIM Vector Network Analyzer PC Simulation
Mar 26, 2024 | Communiqués de presse
embedded world 2024: Rohde & Schwarz presents its cutting-edge test solutions for embedded systemsRohde & Schwarz offers comprehensive test and measurement solutions for embedded design challenges for today’s requirements for efficiency, safety, reliability and interoperability. The highlights will be showcased at the embedded world Exhibition & Conference 2024 in Nuremberg, Germany.
Un kit de calibration active ou une unité de calibration ne contient pas tous les étalons nécessaires pour la procédure de calibration sélectionnée.
J'ai plusieurs traces avec des marqueurs sur un canal. Lorsque j'interroge le résultat du marqueur 1, j'ai toujours la réponse de la trace 1. Comment puis-je obtenir le résultat du marqueur 1 pour la trace 2 ?
J'interroge les valeurs d'une trace en utilisant les commandes scpi. Mais j'obtiens uniquement les valeurs y. Y a-t-il une possibilité d'obtenir également les valeurs y (fréquence) ?
J'ai un fichier sur mon appareil. Comment puis-je l'obtenir d'une manière simple sur mon PC ?
Sep 03, 2024 | Communiqués de presse
Rohde & Schwarz presents its top-notch RF and microwave test solutions at the EuMW 2024 in ParisT&M specialist Rohde & Schwarz will present its industry-leading portfolio at European Microwave Week in Paris for various application fields, pushing the limits in the Gigahertz to Terahertz frequency ranges.
How do I calculate these frequency points when I have a logarithmic sweep and know the center frequency, the span and the number of sweep points?
Fournit les informations nécessaires à la préparation de l'instrument et à sa mise en service.
Fournit des informations de base sur les kits de calibration R&S®ZN-Z170, ZN-Z135, ZN-Z129 et ZN-Z129E.
Jan 20, 2025 | Communiqués de presse
Rohde & Schwarz to host the 2025 Digital Debug Design Challenge at DesignConRohde & Schwarz, a leading provider of high-performance test and measurement solutions, has announced their plans for the upcoming DesignCon 2025 tradeshow.
Mar 21, 2022 | Communiqués de presse
Rohde & Schwarz at DesignCon 2022 presents latest innovations for high-speed digital applicationsAt DesignCon 2022, Rohde & Schwarz will showcase live demos covering industry trends in cooperation with industry experts such as Samtec, ataitec, Clear Signal Solutions, and more.
Instrument health guide for vector network analyzers | Pour les analyseurs de réseaux vectoriels - Flyer Brochures et fiches techniques Flyer
Optimisation de l'efficacité d'un amplificateur de puissance avec des mesures "load pull" des harmoniques
avr. 17, 2023
Caractérisation sur platine aux fréquences sub-THz
déc. 12, 2023
La qualification précoce au niveau de la plaquette des composants RF garantit la qualité et des économies
juil. 14, 2022
Flexible solutions for quantum systems - Product Flyer