Испытания цифровых устройств

Испытания цифровых устройств

High-Speed Digital Test Forum 2025

Зарегистрироваться

Испытания цифровых устройств

Решения для испытаний цифровых устройств помогают в валидации и отладке ваших устройств

По мере стремительного развития технологий стандарты на высокоскоростную цифровую передачу данных должны быстро реагировать на изменения, чтобы идти в ногу со временем. Для удовлетворения этих всё более сложных требований разработчики электроники должны проектировать соответствующие интегральные схемы. Каждое новое поколение электроники также привносит новые сложности в рабочие характеристики цифровых устройств. Если вы хотите гарантировать соответствие вашей цифровой системы действующим стандартам и новейшим требованиям, вы должны проводить испытания системы на всех этапах разработки — от проектирования и проверки полного соответствия нормативам. Решения для испытаний цифровых устройствдолжны охватывать широкий спектр разнообразных вариантов конструкции и предоставлять инструменты для проведения многочисленных измерений (например, джиттера).

Целостность сигналаи целостность питанияиграют ключевую роль в цифровых устройствах. Повышение скорости передачи данных, снижение напряжения питания и увеличение плотности интеграции накладывают на сигналы и тактовые сигналы требования по снижению уровней джиттера и шума. Это приводит к ухудшению качества в канале передаче (частотно-зависимые потери, отражения и перекрестные помехи), а также усиливает эффекты кратковременного падения напряжения и отражений от земли в шинах питания. Кроме того, снижение напряжения питания означает уменьшение допусков на помехи в шине питания, которые вносят джиттер и амплитудный шум в сигналы и тактовые сигналы.

Решения для испытаний цифровых устройств

Испытания целостности сигнала в интерфейсах

Используйте наши решения для испытаний целостности сигнала в ваших интерфейсах.

Больше информации

Испытания на целостность питания

Инструменты для проверки целостности питания вашей системы и платы.

Больше информации

Испытания в рамках отладки на уровне протокола

Проверка и отладка цифровых систем путем запуска событий протокола с помощью наших испытательных решений.

Больше информации

R&S RT-ZISO isolated probing system used together with MXO 5 oscilloscope.

Rohde & Schwarz presents R&S RT-ZISO isolated probing system for precise measurements of fast switching signals

Rohde & Schwarz has developed the R&S RT-ZISO isolated probing system, further elevating its cutting-edge oscilloscope portfolio. The new R&S RT-ZISO enables extremely accurate measurements of fast switching signals, especially in environments with high common-mode voltages and currents. Also new is the R&S RT-ZPMMCX passive probe with MMCX connector, which complements the isolated probe system perfectly for certain measurement tasks.

Webinar: Testing DP 1.4a / eDP 1.5 sources with oscilloscopes - PHY layer compliance

Webinar: Testing DP 1.4a / eDP 1.5 sources with oscilloscopes - PHY layer compliance

Broadcast date: July 10, 2024

This webinar is intended for engineers who work on high-speed digital design and test.

Подпишитесь на нашу новостную рассылку

Будьте в курсе перспективных направлений и новейших вариантов применения.

Подпишитесь на нашу новостную рассылку

Запросить информацию

Do you have questions or need additional information? Simply fill out this form and we will get right back to you.
For service/support requests, please go here to log in or register.

Ваш запрос отправлен. Мы свяжемся с вами в ближайшее время.
An error is occurred, please try it again later.