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408 Resultados

Relevancia

May 27, 2024 | Comunicado de prensa

Rohde & Schwarz presents its solutions for next generation wide bandgap device test and debug at PCIM Europe

Rohde & Schwarz will showcase its latest solutions for power electronics testing at PCIM Europe in Nuremberg, addressing challenges of testing and debugging the next generation of wide bandgap semiconductors in power electronic converters.

Herramientas de asistencia para el manejo de instrumentos de test y medida basados en Windows

Herramientas de asistencia para el manejo de instrumentos de test y medida basados en Windows

jun 13, 2013 | N.º de nota de aplicación 1MA218

Jun 06, 2023 | Comunicado de prensa

Automotive Testing Expo Europe 2023: Enabling the next level of ADAS with test & measurement solutions from Rohde & Schwarz

At Automotive Testing Expo Europe 2023 in Stuttgart, Rohde & Schwarz will demonstrate a wide range of cutting-edge test solutions that support automotive applications. With test solutions on show that cover automotive radar, Ethernet, 5G and UWB, the company enables the automotive industry to make the next level of autonomous driving reality.

Oct 01, 2024 | Comunicado de prensa

Rohde & Schwarz showcases its cutting-edge test solutions for consumer electronics at CETEX 2024 in Amsterdam

Rohde & Schwarz exhibits advanced T&M solutions that address emerging challenges in consumer electronics development at CETEX Consumer Electronics Test & Development Forum and Expo at RAI in Amsterdam.

Mar 06, 2025 | Comunicado de prensa

Rohde & Schwarz revolutionizes EMC Testing at EMV 2025: Unveiling innovative T&M solutions for a connected world

Rohde & Schwarz is set to present a comprehensive suite of EMC and field strength test equipment at the EMV show 2025 in Stuttgart from March 25 to 27, 2025. The display will include standalone instruments, software, and systems designed to meet various industry standards. The solutions support commercial, automotive, military and aerospace standards, as well as ETSI and FCC standards. Visitors can witness these innovative demonstrations at booth number 615.

Control remoto rápido de instrumento con HiSLIP

Esta nota de aplicación presenta el protocolo de instrumentos de LAN de alta velocidad IVI (HiSLIP) y describe sus características. HiSLIP es el sucesor del protocolo de control remoto de LAN VXI-11. Este documento también describe las directrices para utilizar este protocolo.

nov 12, 2014 | N.º de nota de aplicación 1MA208

Jun 06, 2024 | Comunicado de prensa

Rohde & Schwarz and VIAVI offer joint network test solutions supporting Open Radio Commercialization and Innovation

The United States Department of Commerce will provide funding to promote the deployment of open networks in the U.S. and abroad. Rohde & Schwarz and VIAVI offer joint test solutions to meet the needs of radio equipment manufacturers who plan to apply for the funding.

May 22, 2025 | Comunicado de prensa

Zurich Instruments and Rohde & Schwarz to back the National Quantum Computing Testbed Facility in Australia

Zurich Instruments, a market leader in developing and marketing qubit control and readout electronics for quantum computers, and its parent company Rohde & Schwarz, have been selected as key partners in the National Quantum Computing Testbed Facility (NQCT) project in Queensland, Australia.

Feb 13, 2025 | Comunicado de prensa

Rohde & Schwarz showcases its advanced test solutions for embedded systems at embedded world 2025

Rohde & Schwarz will present its advanced test and measurement solutions for the embedded industry at the embedded world, to tackle the emerging challenges in all embedded systems: From energy efficiency and electromagnetic interference to digital design and connectivity.

R&S®RT-Zxx High Bandwidth Probes - Specifications

R&S RT-Zxx High Bandwidth Probes - Specifications

R&S®RT-Zxx High Bandwidth Probes - Specifications

Mar 26, 2024 | Comunicado de prensa

embedded world 2024: Rohde & Schwarz presents its cutting-edge test solutions for embedded systems

Rohde & Schwarz offers comprehensive test and measurement solutions for embedded design challenges for today’s requirements for efficiency, safety, reliability and interoperability. The highlights will be showcased at the embedded world Exhibition & Conference 2024 in Nuremberg, Germany.

RTO - Export of waveform data into MATLAB

I want to export the waveform data of my RTO scope into MATLAB, but the only way I found so far is the screenshot option. Is there another way to use the trace data in my script?

Análisis de señales avanzado con el modo historial del osciloscopio R&S®RTO

Con el modo historial del osciloscopio R&S®RTO es posible la adquisición y el análisis detallado de este tipo de señales. El modo historial permite al usuario revisar adquisiciones previas y aplicar la amplia gama de funciones de análisis del RTO.

jun 03, 2013 | N.º de nota de aplicación 1TD02

Ventajas del sistema de disparo digital R&S®RTO

En esta nota de aplicación se describen los principios de trabajo de un sistema de disparo convencional y se explican las ventajas del disparo digital en tiempo real de los osciloscopios R&S®RTO.

abr 11, 2012 | N.º de nota de aplicación 1ER04

Uso de la aplicación R&S®Forum para el control remoto de instrumentos

Uso de la aplicación R&S®Forum para el control remoto de instrumentos

jun 28, 2018 | N.º de nota de aplicación 1MA196

Análisis de inestabilidad con el osciloscopio digital R&S®RTO

Esta nota de aplicación presenta las funciones de análisis de inestabilidad del R&S®RTO para señales digitales. Demuestra el funcionamiento básico con un ejemplo de aplicación y muestra el análisis de inestabilidad asociado.

ago 29, 2013 | N.º de nota de aplicación 1TD03

Manual de usuario de R&S®RTO/RTO6/RTP-K92 para los ensayos de conformidad con eMMC

Describe los procedimientos de prueba para realizar los ensayos de conformidad con eMMC.

R&S®RTO/RTO6/RTP-K91, manual de usuario para los ensayos de conformidad de DDR3

Describe los procedimientos de test para realizar los ensayos de conformidad de DDR3.

R&S®RTO6 Instrument Security Procedures

Provides information on security issues when working with R&S®RTO6 in secure areas.

R&S®RTO/RTO6/RTP-K26, manual de usuario para los ensayos de conformidad de D-PHY

Describe los procedimientos de prueba para realizar los ensayos de conformidad de D-PHY.

R&S®RTO2000 Instrument Security Procedures

Provides information on security issues when working with R&S®RTO2000 in secure areas.

R&S®RTO/RTO6/RTP-K99, manual de usuario de automatización de ScopeSuite

Describe la opción de automatización R&S®ScopeSuite.

Manual de R&S®RTO/RTO6-K21, R&S®RTP-K21/K101 USB 2.0/3.2, manual de usuario para los ensayos de conformidad

Describe los procedimientos de prueba para realizar los ensayos de conformidad de USB 2.

WEB control is not working with the RTO

WEB control is not working with the RTO.

Manual de usuario de R&S®RTO/RTO6-K81, R&S®RTP-K81/K83 para los ensayos de conformidad de PCI Express 1.1/2.0/3.0

Describe los procedimientos de prueba para realizar los ensayos de conformidad de PCIe 1.

Actualización de firmware de RTO / RTP de una versión anterior

Actualización de firmware de RTO / RTP de una versión anterior

Impacto del periodo ciego de un osciloscopio digital en las medidas

En esta nota de aplicación se explican los fundamentos del periodo ciego y se señala la importancia de una elevada tasa de captura. También se describen las funcionalidades del osciloscopio R&S®RTO y cómo facilitan la rapidez de la depuración, medidas y análisis.

may 17, 2011 | N.º de nota de aplicación 1ER02

Falla la conexión de R&S ScopeSuite con RTO/RTP

Falla la conexión de R&S®ScopeSuite con RTO/RTP

Número de armónicos en la opción de potencia del RTE/RTO

Número de armónicos, RTE, RTO, opción de potencia, FAQ

RTE/RTO/RTP - Cargar un archivo de configuración con drivers Labview

RTE/RTO/RTP - Cargar un archivo de configuración con drivers Labview

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