Octubre, 2025
Fecha
Ubicación
España y Portugal
Información
Jornadas educativas con seminario y demostraciones en área de exhibición. Ingreso gratuito con previa inscripción.
Seminario: On Wafer Load Pull Measurements
En colaboración con Rohde & Schwarz, Maury Microwave y MPI
Este evento está diseñado para ofrecer una visión completa de las técnicas de medida avanzadas y esenciales para el desarrollo moderno de semiconductores.
Únase a los expertos de Rohde & Schwarz y nuestros socios Maury y MPI, y descubra una demostración de la caracterización load pull en oblea de amplificadores RF, aprovechando la precisión de nuestro analizador de redes vectoriales R&S integrado con la estación de puntas de MPI y los sintonizadores de impedancia de Maury: una capacidad que establece un nuevo estándar en la medición de semiconductores.
Las presentaciones se realizarán en inglés y castellano.
La inscripción es esencial, ya que las plazas son limitadas. Por favor, regístrese con antelación para asegurar su asistencia.