background

Test challenges for de-embedding and interconnect testing in data centers

This session discusses challenges in high-speed cable testing, focusing on accurate test fixture characterization, de-embedding techniques, and the importance of impedance-corrected de-embedding.

Запросить информацию

У вас есть вопросы или вам нужна дополнительная информация? Просто заполните эту форму, и мы свяжемся с вами в ближайшее время.

Ваш запрос отправлен. Мы свяжемся с вами в ближайшее время.
An error is occurred, please try it again later.