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Das R&S®RT-ZISO isolierte Tastkopfsystem setzt neue Maßstäbe für die Technologie optischer Tastköpfe. Diese innovative Lösung zeichnet sich durch bisher unerreichte Genauigkeit, Empfindlichkeit, Dynamik und Bandbreite aus und ermöglicht das Vermessen neuartiger Leistungselektronik auf Basis von SiC- und GaN-Halbleitern mit großer Bandlücke (Wide Bandgap, WBG). Die herausragende Leistung des R&S®RT-ZISO Systems ermöglicht präzise differenzielle Messungen bis ±3000 V an Gleichtaktspannungen von ±60 kV bei Anstiegszeiten bis < 450 ps.

The R&S®RT-ZISO isolated probing system sets new standards in optical probe technology. The innovative solution delivers unparalleled accuracy, sensitivity, dynamic range and bandwidth while enabling next-generation wide bandgap (WBG) SiC and GaN power designs. The remarkable R&S®RT-ZISO can make precise differential measurements up to ±3000 V on common mode voltage of ±60 kV with rise times up to < 450 ps. The solution can suppress fast common mode edges that would otherwise distort and disturb accurate measurements.

Высокое напряжение. Оптическая развязка. Удобный интерфейс.

R&S®RT-ZISO 絶縁プロービング・システムは、絶縁プローブテクノロジーの新しい基準を打ち立てます。この革新的なソリューションは、比類ない確度、感度、ダイナミックレンジ、帯域幅を実現しており、次世代のワイドバンドギャップ（WBG）半導体であるSiCやGaNベースの電源設計を可能にします。ソリューションの中核として優れた性能を提供しており、立ち上がり時間が450 ps未満、基準電圧レベルが±60 kVの電圧について最大±3,000 Vまで正確な差動測定を実行できます。加えて、このソリューションにより、正確な測定を阻害する高速なコモンモード信号を抑制できます。

R&S®RT-ZISO Isolated Probing System - Fact Sheet Broschüren und Datenblätter

R&S®RT-ZISO Isolated Probing System versus Tektronix IsoVu TIVP - Comparison Sheet Broschüren und Datenblätter

高壓。光隔離。無縫介面。

高压 光隔离 无缝接口

고전압 솔루션, 광학 절연, 유연한 인터페이스

Alta tensión. Aislamiento óptico. Conexión directa.

Haute tension. Isolement optique. Interface fluide.

11.06.2024 | Pressemitteilung

Rohde & Schwarz hat das R&S RT-ZISO isolierte Tastkopfsystem entwickelt, das äußerst genaue Messungen schnell schaltender Signale ermöglicht, insbesondere in Umgebungen mit hohen Gleichtaktspannungen und -strömen.

29.04.2025 | Pressemitteilung

Rohde & Schwarz zeigt auf der PCIM Expo 2025 in Nürnberg seine neuesten Testlösungen für Leistungselektroniksysteme und -komponenten. Am Stand des Unternehmens (Halle 7, Stand 166) stehen die innovativen Messgeräte des Unternehmens im Mittelpunkt, mit deren Hilfe Anwender Herausforderungen der Fehlerbeseitigung bei zukunftsweisenden Wide-Bandgap-Halbleitern wie GaN und SiC adressieren können.

Beschreibt den Tastkopf und seine Verwendung.

19.12.2024 | Pressemitteilung

Rohde & Schwarz, a global leader in test and measurement solutions, is excited to unveil its latest innovations and demonstrations at CES 2025. Renowned for its pivotal role in the automotive ecosystem, Rohde & Schwarz consistently makes significant contributions to advancing the industry’s vision of autonomous driving, electrification, and connectivity.

Isolated probing system Accurately measure fast switching signals in noisy environments with RT-ZISO, ideal for WBG testing. Accurately measure fast switching signals in noisy environments with RT-ZISO, ideal for WBG testing. Measuring accurately in wide bandgap application

Isolated probing system Learn about RT-ZISO safety features and effortless setup to transform your testing workflow. Learn about RT-ZISO safety features and effortless setup to transform your testing workflow. Oscilloscope, probe Safe to measure and easy to operate

06.03.2025 | Pressemitteilung

Rohde & Schwarz präsentiert auf der EMV-Messe 2025 vom 25. bis 27. März 2025 in Stuttgart eine umfassende Palette an EMV- und Feldstärke-Messtechniklösungen. Zu sehen sind unter anderem Standalone-Geräte, Software und Systeme, die verschiedene Industriestandards erfüllen. Die Lösungen unterstützen kommerzielle, Automotive-, Militär- und Aerospace-Standards sowie ETSI- und FCC-Normen. Messebesucher können an Stand 615 innovative Demonstrationen zu diesen Themen erleben.

13.02.2025 | Pressemitteilung

Embedded-Systeme bilden den Kern moderner Elektronikkomponenten und finden sich in Leistungseingangsstufen, Hauptsteuerplatinen, Motoren, Motorsteuerungen, Sensoren und Benutzerschnittstellen. Für jeden Funktionsblock sind umfassende Tests erforderlich, um eine optimale Performance und Zuverlässigkeit sicherzustellen und eine schnelle Markteinführung des endgültigen Produkts zu ermöglichen. Mit seinem umfangreichen Portfolio hochmoderner Testlösungen unterstützt Rohde & Schwarz Entwicklungsingenieure bei der Bewältigung aktueller und neuer Herausforderungen mit Embedded-Systemen: von Energieeffizienz und elektromagnetischen Störungen bis hin zu digitalem Design und Konnektivität.

28.10.2024 | Pressemitteilung

Rohde & Schwarz, ein führender Messtechnik-Anbieter mit jahrzehntelanger Expertise, präsentiert sich auf der electronica 2024 in seiner Heimatstadt München. Messebesucher können die breite Lösungspalette des Unternehmens kennenlernen, die auf messtechnische Herausforderungen bei der Entwicklung, Verifizierung und Produktion elektronischer Bauteile und Geräte zugeschnitten ist – vom Alltäglichen zum Außergewöhnlichen.

Gleichtaktverzerrung bei der Sondierung von Leistungselektronik mit großer Bandlücke

25.11.2024

This document provides the technical specifications of the R&S®RT-Zxx high voltage and current probes

RTZISO probe - isolated probing system for oscilloscopes RT ZISO probe - isolated probing system for oscilloscopes

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