위상 배열 안테나 및 AIP(Antenna in Package)의 OTA 특성 분석
R&S®ATS1000 Antenna Test System은 좁은 면적에 설치할 수 있는, 위상 배열 안테나를 테스트하는 데 적합한 다이렉트 Far-field OTA 시스템입니다. 이 시스템은 18 GHz부터 87 GHz까지 AiP 기술을 이용하여 모든 모듈의 방사 특성을 테스트 및 최적화합니다.
R&S®ATS1000 Antenna Test System은 좁은 면적에 설치할 수 있는, 위상 배열 안테나를 테스트하는 데 적합한 다이렉트 Far-field OTA 시스템입니다. 이 시스템은 18 GHz부터 87 GHz까지 AiP 기술을 이용하여 모든 모듈의 방사 특성을 테스트 및 최적화합니다.
고객은 끊임없는 기술 변화 환경에서 AiP를 통해 혜택을 누리고, 첨단 5G 안테나 솔루션 및 기타 밀리미터파 분야의 길을 열어 갈 수 있습니다. AiP를 이용하는 모듈은 안테나 크기를 최소화할 수 있습니다. 이러한 모듈은 더 많은 안테나 소자를 탑재할 수 있어 방사 이득을 높이고 보다 경제적이고 에너지 효율적인 솔루션을 구축할 수 있습니다.
칩 제조업체는 위상 배열 안테나의 핵심적인 설계 제약에 부딪힐 수 있습니다. RF 구성 부품들은 독립적인 일체형 모듈로 탑재되므로, 전도 테스트는 적합하지 않습니다. 모듈 최적화 및 검증에 대한 요구사항은 시스템 수준의 테스트, 통합, 생산 중의 OTA(Over-the-Air) 테스트에 집중되어 있습니다. 밀리미터파 빔포밍에는 정확하고 신뢰할 수 있으며 효율적인 솔루션이 요구됩니다.
R&S®ATS1000 Antenna Test System은 다양한 안테나 테스트 시장 중 특히 위상 배열 안테나의 고밀도 프런트엔드에 대응하는 차폐형 챔버 솔루션입니다. 위상 배열 안테나의 각 소자는 또한 R&S®AMS32 소프트웨어를 사용해 개별적으로 특성을 분석할 수 있습니다. R&S®ATS1000은 3D 안테나 패턴 특성 분석 및 AiP 안테나 시스템 특성 분석의 모든 테스트 요구사항을 충족합니다. 이 시스템은 18 GHz부터 87 GHz까지 넓은 주파수 범위의 무반사실에서 다이렉트 Far Field 조건으로 빠르고 정확한 측정을 수행합니다.
R&S®ATS1000을 보완하기 위해 로데슈바르즈의 다양한 첨단 테스트 및 계측 기기를 사용해 TRP, EiRP, 3D 패턴과 같은 AiP OTA 파라미터를 테스트할 수 있습니다. 예를 들어 R&S®ZNA 고성능 VNA(Vector Network Analyzer)는 CW 신호를 동시에 정확하게 생성 및 측정하므로 높은 측정 처리량을 제공합니다.
또한, R&S®SMW200A Vector Signal Gegenerator는 R&S®FSW Signal and Spectrum Analyzer와 결합하여 ACLR, EVM, BER 등의 파라미터를 검증합니다. R&S®ATS1000은 복합 변조 신호를 정확하게 발생, 측정, 분석하고, AiP 모듈의 RF 특성을 더욱 개선하는 데 중요한 인사이트를 제공합니다.
Far Field 스캐너 및 3D 방사 패턴
AiP 모듈은 다이렉트 Far Field OTA 측정을 위한 R&S®ATS1000에 쉽게 탑재가 가능합니다. 또한 고정밀 코니컬 컷 포지셔너는 고도의 반복 가능한 이동과 방위 및 고도에 대해 0.03°의 각도 분해능을 구현합니다. 하드웨어 트리거링은 위상 배열 안테나의 더욱 빠르고 정확한 RF 특성 분석을 도와줍니다.
초소형, 편리한 이동식 시스템 및 정확한 성능
고정식 테스트 챔버에 투자하는 것은 일반적으로 설비에서 많은 설치 면적을 포기하는 것을 의미합니다. 하지만 이동식 R&S®ATS1000은 1.3평방미터의 작은 면적으로 어느 실험실에나 적합합니다. 챔버 크기는 19" 랙과 대등하지만 3배 크기인 기본 안테나 챔버와 동급의 측정 정확도를 제공합니다.