Pruebas en oblea y dado
Sondas de RF para pruebas en oblea y dado
El mundo moderno apuesta por la conectividad, tanto por cable como inalámbrica. Los chips, especialmente los chips de RF, permiten esta conectividad. Los chips de RF admiten continuamente más características, funciones y banda de frecuencias. Un chip de RF complejo a menudo incluirá distintas funciones y tecnologías de semiconductores como un sistema en paquete (SIP).
Al verificar estas características de cada elemento y semiconductor, las pruebas se realizan para verificar bloques funcionales individuales antes de su costosa integración y empaquetado. Durante el proceso de producción, se realizan pruebas tempranas tanto en oblea o dado.
Rohde & Schwarz proporciona instrumentos de vanguardia que aseguran pruebas rápidas y precisas en oblea y dado. También colaboramos con los especialistas líderes en estaciones de sonda para realizar sondeos de RF sofisticados.
