background
Oscilloscopes 1-6GHz

Больше измерений благодаря быстрой памяти большого объема

В R&S®RTO6 в стандартной комплектации предусмотрена память на 200 млн точек, которая может быть расширена до 2 млрд точек

Measuring more with deep and responsive memory
Flat frequency response for accurate measurements

Плоская АЧХ для точных измерений
Measure small signals using HD Mode

Измерение слабых сигналов с помощью режима HD
Detect EMI emissions with mask test

Обнаружение ЭМП с помощью испытаний по маске

Для вариантов применения, таких как непрерывный сбор данных длинного импульса или последовательностей протоколов, часто требуется память большего объема. Глубина памяти у осциллографа R&S®RTO6 может быть расширена до 2 млрд точек. Обработка сигналов в ASIC обеспечивает непрерывную работу даже при использовании памяти большого объема.

Связанные продукты

Осциллограф R&S®RTO6, вид спереди
R&S®RTO6 Осциллограф Информация об изделии

Related solutions

Electronic design

Разработка электронных устройств

Automotive

Автомобилестроение

Ethernet and other bus systems

Ethernet и другие системы шин

Связанное видео

Detect EMI emissions with mask test
PCB EMI debugging Development

Обнаружение ЭМП с помощью испытаний по маске

Осциллограф R&S®RTO6 обеспечивает гибкость и удобство процесса задания маски: с помощью всего лишь нескольких жестов на сенсорном экране или движений мышью пользователь может сформировать маску из опорного сигнала или задать собственную маску, включающую в себя до восьми сегментов.
Measure small signals using HD Mode
Oscilloscopes 1-6GHz

Измерение слабых сигналов с помощью режима HD

Осциллографы R&S®RTO6 могут запускаться даже по сигналам с минимальной амплитудой и позволяют локализовывать соответствующие события
Flat frequency response for accurate measurements
Oscilloscopes

Плоская АЧХ для точных измерений

Для реализации точного захвата сигналов осциллографы R&S®RTO6 обладают плоской амплитудно-частотной характеристикой во всей номинальной полосе пропускания, обеспечивая получение точных результатов измерений независимо от частотных составляющих сигнала.

Запросить информацию

Do you have questions or need additional information? Simply fill out this form and we will get right back to you.
For service/support requests, please go here to log in or register.

Ваш запрос отправлен. Мы свяжемся с вами в ближайшее время.
An error is occurred, please try it again later.