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Liste des pages d'aperçus vidéo triées par catégories et thèmes. Vous recherchez des renseignements supplémentaires à propos d'une application spécifique ou d'une technique de mesure ? Sélectionnez votre thème d'intérêt.

Les basiques du ZNA
Les basiques du ZNA

E-learning session Cette session de 30 minutes vous fait découvrir les basiques de notre analyseur de réseaux vectoriels, le ZNA. Lors de ce webinar nous parlerons de sa composition interne, de ses différents ports, de son interface utilisateur ainsi que de la calibration. Cette session de 30 minutes vous fait découvrir les basiques de notre analyseur de réseaux vectoriels, le ZNA.

Vidéo
Réalisation de mesures pulsées avec un analyseur de réseaux vectoriels ‒ chapitre 4
Réalisation de mesures pulsées avec un analyseur de réseaux vectoriels ‒ chapitre 4

Dans cette dernière vidéo, nous verrons un mode de mesure spécial où l'analyseur de réseaux vectoriels ZNA peut être utilisé pour analyser l'impulsion dans le temps, afin d'étudier ce qui se passe dans une résolution supérieure au cours du statut “on time” de l'impulsion RF. ZNA, Fondamentaux de l'impulsion Effectuer des mesures pulsées avec un analyseur de réseaux vectoriels

Vidéo
Analyseurs de réseaux vectoriels R&S®ZNA - Centre de médias

Analyseurs de réseaux vectoriels R&S®ZNA - Centre de médias

embedded world 2024: Rohde & Schwarz presents its cutting-edge test solutions for embedded systems

Mar 26, 2024 | Communiqués de presse | Test & measurement

embedded world 2024: Rohde & Schwarz presents its cutting-edge test solutions for embedded systems

Rohde & Schwarz offers comprehensive test and measurement solutions for embedded design challenges for today’s requirements for efficiency, safety, reliability and interoperability. The highlights will be showcased at the embedded world Exhibition & Conference 2024 in Nuremberg, Germany.

Actualités
Automatically restart with return of the AC power

Is it possible to automatically restart a ZNB with return of the AC power?

Calibration de deux voies simultanément avec des commandes à distance

Calibration de deux voies simultanément avec des commandes à distance

Export complex data of a trace with mathematics and time gating

Export complex data of a trace with mathematics and time gating.

Rohde & Schwarz presents its top-notch RF and microwave test solutions at the EuMW 2024 in Paris

Sep 03, 2024 | Communiqués de presse | Test & measurement

Rohde & Schwarz presents its top-notch RF and microwave test solutions at the EuMW 2024 in Paris

T&M specialist Rohde & Schwarz will present its industry-leading portfolio at European Microwave Week in Paris for various application fields, pushing the limits in the Gigahertz to Terahertz frequency ranges.

Actualités
On-wafer testing

Discover solutions for on-wafer testing, die testing and RF probing. Explore wafer testing equipment, such as vector network analyzers and probe stations.

Solutions
Test Ethernet
Test Ethernet

Solutions de pointe de Rohde & Schwarz pour le test Ethernet. Vérifier la conformité des interfaces Ethernet de vos conceptions aux normes Ethernet ‒ plus d'informations !

Solutions
Appliquer un décalage à une ligne de limite

J'ai une ligne de limite existante. Est-il possible d'appliquer un décalage vertical ?

Interroger les données de toutes les traces à la fois

Existe-t-il un moyen d'interroger les données de toutes les traces en une fois ?

VNA – Ai-je vraiment besoin d'une correspondance glissante pour la calibration ?

VNA – Ai-je vraiment besoin d'une correspondance glissante pour la calibration ?

R&S®ZNXSIM Getting Started

Gets you started with the R&S®ZNXSIM Vector Network Analyzer PC Simulation

R&S®ZN-Z1xx Calibration Kits - Specifications

R&S®ZN-Z1xx Calibration Kits - Specifications

Avertissement de calibration VNA indiquant que le kit de calibration actif ne contient pas toutes les normes nécessaires

Un kit de calibration active ou une unité de calibration ne contient pas tous les étalons nécessaires pour la procédure de calibration sélectionnée.

Transfert de fichiers de l'appareil vers un PC via la connexion LAN (manière simple)

J'ai un fichier sur mon appareil. Comment puis-je l'obtenir d'une manière simple sur mon PC ?

ZNx : Lecture de marqueurs d'autres traces avec des commandes à distance

J'ai plusieurs traces avec des marqueurs sur un canal. Lorsque j'interroge le résultat du marqueur 1, j'ai toujours la réponse de la trace 1. Comment puis-je obtenir le résultat du marqueur 1 pour la trace 2 ?

Interrogation des valeurs x (fréquence) d'une trace

J'interroge les valeurs d'une trace en utilisant les commandes scpi. Mais j'obtiens uniquement les valeurs y. Y a-t-il une possibilité d'obtenir également les valeurs y (fréquence) ?

How do I calculate the logarithmic frequency steps for the horizontal axis?

How do I calculate these frequency points when I have a logarithmic sweep and know the center frequency, the span and the number of sweep points?

Guide de démarrage rapide des convertisseurs R&S®ZCxxx

Fournit les informations nécessaires à la préparation de l'instrument et à sa mise en service.

Informations techniques R&S®ZN-Z170/-Z135/-Z129/-Z129E

Fournit des informations de base sur les kits de calibration R&S®ZN-Z170, ZN-Z135, ZN-Z129 et ZN-Z129E.

R&S Bargains International

Here you will find bargains like the latest generation test and measurement instruments which have been used by our sales teams for demonstration, training and loan.

Produits
Test d'interfaces numériques haut débit
Test d'interfaces numériques haut débit

Solutions puissantes pour le test des interfaces numériques haut débit : vérification ✓ débogage ✓ et test de conformité ► Obtenir plus d'informations !

Solutions
Webinar: Validate your dual-polarized phased array beamformer over the air with a phase-coherent VNA
Webinar: Validate your dual-polarized phased array beamformer over the air with a phase-coherent VNA

For the demanding measurements, the high-end R&S®ZNA vector network analyzer, R&S®ATS800B and R&S®ATS800R compact antenna test ranges (CATR) are used.

On demand
Rohde & Schwarz to host the 2025 Digital Debug Design Challenge at DesignCon

Jan 20, 2025 | Communiqués de presse

Rohde & Schwarz to host the 2025 Digital Debug Design Challenge at DesignCon

Rohde & Schwarz, a leading provider of high-performance test and measurement solutions, has announced their plans for the upcoming DesignCon 2025 tradeshow.

Actualités

Mar 21, 2022 | Communiqués de presse | Test & measurement

Rohde & Schwarz at DesignCon 2022 presents latest innovations for high-speed digital applications

At DesignCon 2022, Rohde & Schwarz will showcase live demos covering industry trends in cooperation with industry experts such as Samtec, ataitec, Clear Signal Solutions, and more.

Actualités
Qualification sur plaquette de composants RF

La qualification précoce au niveau de la plaquette des composants RF garantit la qualité et des économies

juil. 14, 2022

Applications
Caractérisation sur platine aux fréquences sub-THz

Caractérisation sur platine aux fréquences sub-THz

déc. 12, 2023

Applications
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