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Gli analizzatori audio UPD e UPL, con la loro ampia varietà di funzioni, garantiscono praticamente l’intera gamma delle procedure di misura necessarie per la tecnologia audio. Grazie ai controller universali di sequenza UPD-K1 e UPL-B10, disponibili come opzioni, l’utente è in grado di espandere notevolmente la gamma di funzioni a scopo di adattamento ai propri requisiti speciali. È possibile, ad esempio, aggiungere funzioni complete di misura, come misure della resistenza ohmica, e leggere, convertire o ri-caricare risultati di sweep, oppure aggiungere nuove etichette di scala (ad esempio per il ritardo di gruppo). Un altro esempio è costituito dall’analisi delle curve dello sweep e dalla visualizzazione dei risultati in una finestra accanto alla curva. Per quanto riguarda l’etichettatura di softkey e funzioni, il funzionamento dei programmi di controllo di sequenza è analogo al controllo dei tasti funzione per il display grafico in UPD/UPL.
giu 04, 1998 | AN-No. 1GA16
Vero o falso: 30 dBm + 30 dBm = 60 dBm? Perché l’1% significa -40 dB una volta ma, poi, 0,1 dB o 0,05 dB la volta successiva? Questo tipo di domanda può creare dei grattacapi anche a dei tecnici esperti. I decibel si trovano ovunque, tra livelli di potenza, tensioni, coefficienti di riflessione, valori di rumore, intensità di campo e altro. Che cos’è un decibel e come dovremmo usarlo nei nostri calcoli? Questa nota applicativa intende essere un ripasso sull’argomento dei decibel.
apr 21, 2015 | AN-No. 1MA98
L'utilizzo dei parametri S anziché di un offset prefissato rende le misure più precise, tenendo conto dell’interazione tra il sensore e un componente. In questo modo, il piano di riferimento del sensore viene spostato dal connettore RF del sensore all’ingresso del dispositivo esterno. In questa nota applicativa vengono illustrati i fondamenti dell’utilizzo dei parametri S e discusse alcune applicazioni comuni nelle quali è utile la correzione con i parametri S. Viene presentato, inoltre, uno tool da linea di comando per l’aggiornamento dei dati dei parametri S in applicazioni personalizzate o in sistemi automatici di collaudo.
lug 27, 2012 | AN-No. 1GP70
