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Jun 13, 2024 | Comunicato stampa
Rohde & Schwarz achieves breakthrough in sub-THz research with 140 GHz multi-channel transceiver characterizationRohde & Schwarz is advancing its pioneering sub-THz research in the D-Band and has reached important milestones. In collaboration with the Berkeley Wireless Research Center (BWRC), the test and measurement expert has successfully characterized a TX/RX multi-antenna chip (CHARM) operating at up to 140 GHz, using their D-Band over-the-air (OTA) test chamber. Academia and industry leaders agree that the 110 GHz to 170 GHz frequency range, known as D-Band, is critical for beyond 5G and 6G mobile communications and future automotive radar applications.
Benvenuti alle nostre brevi guide di apprendimento video sull’esecuzione di test su radar con l’ausilio delle apparecchiature di test di Rohde & Schwarz. L’accesso alla maggior parte delle informazioni sul radar è piuttosto ristretto, dato che molte applicazioni radar si trovano in ambito militare o nella ricerca industriale riservata.
feb 03, 2014 | AN-No. 1MA209
In questo white paper vengono presentate le misure per minimizzare i pericoli dovuti a malware e discusse azioni mirate a ridurre i rischi assicurando, allo stesso tempo, che le prestazioni dello strumento non siano compromesse. Il documento discute inoltre l'utilizzo di software antivirus in combinazione con strumenti basati su Embedded Linux.
nov 23, 2016 | AN-No. 1GP112
Questa nota applicativa descrive come utilizzare la piattaforma R&S CMW per eseguire le misure definite nella versione 5 della specifica di test Bluetooth.
giu 19, 2017 | AN-No. 1MA282
Rohde & Schwarz Health Guide – For signal generators - Flyer
In questa nota applicativa vengono descritti, a grandi linee, due diversi approcci per il controllo remoto di strumenti Rohde & Schwarz mediante MathWorks MATLAB.
giu 12, 2017 | AN-No. 1MA171
Suggerimenti per lo sviluppo e buone prassi per l’uso di driver di strumenti
gen 01, 2013 | AN-No. 1MA153
R&S®LegacyPro - Instrument emulation – breathing new life into existing test systems - Brochure