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Advanced Eye Analysis
Advanced Eye Analysis

Advanced eye analysis software for verification and debugging of signal integrity with an eye diagram and tools such as mask test, histogram, automated eye measurements, etc.

Prodotti
R&S®PAM-N analysis oscilloscope software
R&S®PAM-N analysis oscilloscope software

K135 enables PAM-N Analysis for teh RTO and RTP Oscilloscopes.

Prodotti
R&S®RTP-K136 / -K137 8 / 16 Gbps advanced eye analysis - Fact Sheet

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embedded world 2024: Rohde & Schwarz presents its cutting-edge test solutions for embedded systems

Mar 26, 2024 | Comunicato stampa | Test & measurement

embedded world 2024: Rohde & Schwarz presents its cutting-edge test solutions for embedded systems

Rohde & Schwarz offers comprehensive test and measurement solutions for embedded design challenges for today’s requirements for efficiency, safety, reliability and interoperability. The highlights will be showcased at the embedded world Exhibition & Conference 2024 in Nuremberg, Germany.

Notizie
Webinar sugli oscilloscopi
Webinar sugli oscilloscopi

Scoprite di più sui nostri oscilloscopi e sulle nostre soluzioni partecipando ai webinar di Rohde & Schwarz

Interface Testing
Interface Testing

Learn about DisplayPort transmitter testing with Rohde & Schwarz.

Soluzioni
Advanced eye analysis - get to your results faster
Advanced eye analysis - get to your results faster

This webinar is intended for engineers working on high-speed digital interface designs and testing.

On demand
Advanced Eye Analysis
Advanced Eye Analysis

In this webinar you will learn more about a novel way of capturing and measuring eye diagrams in hardware.

On demand
PAM-N Analysis with the R&S RTP Oscilloscope (Part 3)
PAM-N Analysis with the R&S RTP Oscilloscope (Part 3)

This example demonstrates the power of Advanced Eye analysis with the RTP oscilloscope on an Automotive Ethernet PAM4 signal at 5 Gbaud. PAM-N Analysis with the R&S RTP Oscilloscope (Part 3) Learn about key advantages of the PAM-N analysis option on the R&S RTP & RTO6 oscilloscopes together with the Advanced Eye option to characterize and verify signal transitions.

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PAM-N Analysis with the R&S RTP Oscilloscope (Part 2)
PAM-N Analysis with the R&S RTP Oscilloscope (Part 2)

The Advanced Eye Analysis option enables on the R&S RTP oscilloscope utilizes a hardware-based Clock-Data-Recovery trigger (CDR). In combination with the PAM-N Analysis option this true CDR trigger operates also on PAM signals and enables a Live Eye diagram for continous monitor of the signal quality over hours or even days.

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Embedded world 2023: Rohde & Schwarz showcases its state-of-the-art test solutions for embedded systems

Mar 01, 2023 | Comunicato stampa | Test & measurement

Embedded world 2023: Rohde & Schwarz showcases its state-of-the-art test solutions for embedded systems

Embedded systems are at the core of today’s electronic devices, whether in consumer electronics, telecommunications, industrial, medical, automotive or aerospace applications. Flawless operation is crucial, and engineers face complex challenges when designing ever more compact embedded systems which meet today’s demands of efficiency, safety, reliability and interoperability. Rohde & Schwarz addresses these challenges with its wide-ranging test and measurement solutions showcased at the embedded world Exhibition & Conference 2023 in Nuremberg.

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