Oscilloscopi e Sonde di Nuova Generazione

Tecniche di Misura per l’Elettronica Generale e di Potenza

Data

nov 20, 2025

Registrati

Location

Holiday Inn Napoli
Centro Direzionale - Isola E6
V. Domenico Aulisio, 80143 Napoli NA

Info

Organizzato con il partner BatterFly

Siamo lieti di invitarti all'evento di formazione esclusivo organizzato e offerto da Rohde & Schwarz e Batter Fly, avrà sia una parte teorica che una parte pratica con esperimenti live.

Durante il seminario verranno illustrate le ultime novità in termini di oscilloscopi e relativi funzionalità e accessori, con un approfondimento sulle criticità nella caratterizzazione dei segnali nell'elettronica di potenza, concentrandosi sui dispositivi in tecnologie innovative come SiC e GaN.

Verrà posta l’attenzione sull’importanza della scelta delle sonde e del focus da avere sul Common Mode Rejection Ratio (CMRR) per garantire misurazioni accurate. Inoltre, verrà analizzata la misura dell'integrità del segnale di potenza per il corretto funzionamento di dispositivi digitali, evidenziando la necessità di contenere il ripple e mantenere bassa l'impedenza della rete di distribuzione della potenza (PDN) per evitare disturbi che compromettano le prestazioni.

Sessioni

Oscilloscopi e sonde in applicazioni di elettronica generale e di potenza

Speaker: Micheal Demtschenko (Rohde & Schwarz)

Nelle applicazioni dell’elettronica di potenza la caratterizzazione dei segnali richiede prestazioni sempre più sfidanti in particolare con l’introduzione di dispositivi «wide bandgap» come SiC e GaN. Quali caratteristiche deve avere l'oscilloscopio in questo tipo di misure? La sonda dell’oscilloscopio poi rappresenta il primo anello della catena di misura e influenza la correttezza dei risultati, pertanto scegliere la corretta tipologia di sonda nei vari scenari di misura diventa una operazione essenziale.

In particolare il Common Mode Rejection Ratio (CMRR) è un parametro fondamentale in questo tipo di misure. L’utilizzo di semiconduttori in tecnologia SiC e GaN è particolarmente critico e rende necessario l’uso di sonde opto-isolate nel sistema di misura.

Misurare la qualità delle alimentazioni (Power Integrity)

Speaker: Luigi Lorusso (Rohde & Schwarz)

Per garantire il corretto funzionamento dei dispositivi digitali come µ-processori, FPGA, memorie, le misure di integrità del segnale di Potenza diventano un’operazione essenziale. Il ripple deve essere sempre più contenuto e differenti approcci in termini di probing possono alterare i risultati di misura.

La possibilità di analisi nel dominio della frequenza (analisi di spettro) aiuta a risalire più velocemente alla causa di alcuni problemi. I moderni componenti digitali risentono di problematiche EMI per cui l’impedenza della rete di distribuzione delle Potenza (PDN) deve essere mantenuta il più bassa possibile a qualsiasi frequenza. Disturbi contenuti sui segnali di alimentazione hanno diretto impatto sulla corretta integrità del segnale dei dispositivi digitali.

Agenda

Ora	Argomento
08.45 - 09.15	Registrazione
09.15 - 09.30	Introduzione Dario Scarano (Rohde & Schwarz) e Gianmarco Moroni (Batter Fly)
09.30 - 11.00	Parte 1 - Oscilloscopi e sonde in applicazioni di potenza (in inglese) L'oscilloscopio nelle applicazioni di potenza Scegliere la sonda corretta nelle applicazioni di potenza L’impatto del CMRR delle sonde sulle misure Le sonde Opto-isolate nelle applicazioni di potenza
11.00 - 11.30	Coffee break con area riservata alla prova della strumentazione di misura utilizzata dai relatori
11.30 - 13.00	Parte 2 - Misurare la qualità delle alimentazioni Caratterizzare il ripple: l'impatto di differenti tipologie di sonde e l'analisi nel dominio del tempo e della frequenza (analisi di spettro) Caratterizzare l'impedenza della Power Delivery Network (PDN) con l’oscilloscopio Impatto della qualità delle alimentazioni sull'integrità dei segnali digitali

I posti sono limitati, non perdere l'occasione di partecipare e registrati subito!

Registrati