Test di amplificatori ad alta potenza
L'analizzatore di reti vettoriale R&S®ZNA consente di collaudare gli amplificatori ad alta potenza in condizioni operative reali.
L'analizzatore di reti vettoriale R&S®ZNA consente di collaudare gli amplificatori ad alta potenza in condizioni operative reali.
Configurazione esterna esemplificativa di test ad alta potenza: basata sull'opzione di accesso diretto al canale dell'analizzatore di reti vettoriale R&S®ZNA con attenuatori a passi per sorgente e ricevitore.
Attività da eseguire
La caratterizzazione degli amplificatori è un processo complesso e impegnativo che spinge le apparecchiature di test al limite delle loro possibilità. La vasta gamma di parametri di test e configurazioni necessari per valutare accuratamente le prestazioni degli amplificatori richiede apparecchiature di prova con flessibilità e robustezza senza pari. Le sfide possono presentarsi nei seguenti ambiti:
Soluzione Rohde & Schwarz
L'infrastruttura hardware configurabile in modo flessibile, la concezione source-per-port e le diverse applicazioni software fanno dell'analizzatore di reti vettoriale R&S®ZNA una potente soluzione one-box per i test ad alta potenza:
L'analizzatore di reti vettoriale R&S®ZNA
Caratteristiche e vantaggi
Estensioni
Oltre alle configurazioni e ai parametri di misura sopra menzionati, sono possibili estensioni in combinazione con i sistemi dei partner con cui collaboriamo, ad esempio caratterizzazione dei chip su wafer, adattamento dell'impedenza per amplificatori non adattati, test di carico armonico attivo/ibrido e parametri di figura di rumore/parametri di rumore.
Riassunto
L'infrastruttura hardware configurabile dell'analizzatore R&S®ZNA supporta configurazioni di test ad alta potenza progettate dall'utente e personalizzate. La gamma di scansione elettronica della potenza di 100 dB basata su ALC e le eccezionali specifiche di linearità assicurano un'elevata accuratezza e risultati altamente affidabili. In collaborazione con i partner leader del settore Focus Microwaves e Maury Microwave, è possibile realizzare sistemi di test su wafer e utilizzare ulteriori estensioni.