München 29.04.2025

Strenge Tests und hochmoderne Charakterisierungsmethoden ermöglichen Entwicklungsingenieuren die Verbesserung der Performance, Effizienz und Zuverlässigkeit ihrer Leistungselektronik-Designs auf Basis von SiC- und GaN-Bauelementen. Diese Halbleiter spielen eine wichtige Rolle in wegweisenden Branchen wie E-Mobilität, erneuerbare Energien oder KI-Rechenzentren. Rohde & Schwarz präsentiert am Stand 166 in Halle 7 der PCIM Expo 2025, die vom 6. bis 8. Mai 2025 im Messezentrum Nürnberg stattfindet, eine Auswahl seines umfassenden Messtechnikportfolios. Die Testlösungen sind auf Leistungselektronikanwendungen zugeschnitten, in denen hohe Effizienz, Schaltgeschwindigkeiten und Leistungsdichte wichtig sind und der Betrieb bei hohen Temperaturen berücksichtigt werden muss.
Analyse von Halbleitern mit großer Bandlücke
Im Mittelpunkt der präsentierten Aufbauten steht das R&S RT-ZISO, ein isoliertes Tastkopfsystem von Rohde & Schwarz. Diese isolierten Tastköpfe der nächsten Generation setzen neue technologische Standards mit einer noch nie dagewesenen Kombination von Genauigkeit, Empfindlichkeit, Dynamikbereich und Bandbreite für Leistungselektronik-Designs auf Basis von SiC- und GaN-Halbleitern mit großer Bandlücke (Wide Bandgap, WBG). Rohde & Schwarz demonstriert die Vorteile des R&S RT-ZISO-Tastkopfsystems gegenüber massebezogenen Tastköpfen in einem Aufbau zur Untersuchung des Schaltverhaltens eines GaN-MosFET.
Doppelpulstests
Der Doppelpulstest ist ein Standardverfahren zur Charakterisierung des Schaltverhaltens von Leistungsbauteilen auf SiC- und GaN-Basis. Rohde & Schwarz arbeitet hier mit dem Branchenexperten PE-Systems GmbH zusammen. Mit dem MXO 5 Oszilloskop der nächsten Generation von Rohde & Schwarz (8-Kanal-Modell) in Kombination mit dem R&S RT-ZISO isolierten Tastkopfsystem lassen sich stabile und genaue Doppelpulstests realisieren. Auf der PCIM können Besucher präzise, zuverlässige und schnelle Doppelpulstests an 1200-V-SiC-Komponenten von Wolfspeed erleben, die typischerweise als Antriebswechselrichter in der Automobilindustrie eingesetzt werden.
Automatisierte Lastsprungtests
Früher waren Lastsprungtests ein zeitaufwändiger manueller Prozess, bei dem die Lastsprungantwort eines Abwärtswandlers bei unterschiedlichen Eingangsspannungspegeln mit Hilfe von nur wenigen Referenzpunkten verifiziert wurde. Auch bei dieser Anwendung arbeitet Rohde & Schwarz mit der PE-Systems GmbH zusammen, die eine Testautomatisierungssoftware anbietet. In Kombination mit dem MXO 5 Oszilloskop und dem R&S RT-ZISO isolierten Tastkopfsystem verkürzt diese Lösung die Gesamttestzeit, ohne die Anzahl der Testpunkte zu reduzieren. Auf der PCIM demonstrieren die Unternehmen automatisierte Lastsprungtests eines Abwärtswandlers von Monolithic Power Systems, Inc. in einem Spannungsbereich von 6 V bis 60 V. Der Aufbau unterstützt sogar mehr Referenzpunkte innerhalb des gleichen Zeitrahmens und kann um eine Temperaturregelung erweitert werden, was die vollständige Automatisierung von Eingangsspannungs-, Laststrom- und Temperaturprofiländerungen ermöglicht.
Komponentencharakterisierung
Darüber hinaus präsentiert Rohde & Schwarz seine Lösungen zur Komponentencharakterisierung. Die R&S LCX LCR-Meter mit maßgeschneiderten Impedanzmessfunktionen sind für alle diskreten passiven Komponenten bis 10 MHz geeignet. Mit dem R&S LCX können Benutzer die Spannungsabhängigkeit von Kapazitäten in Kernkomponenten von Leistungswandlern wie MLCCs einfach charakterisieren. In Verbindung mit einem Sweep Software Tool können Benutzer umfassende Sweep-Messungen durchführen und in zahlreichen Diagrammen darstellen.
Der MFIA-Impedanz-Analysator der Zurich Instruments AG (Tochterunternehmen seit 2021) ermöglicht die Impedanzspektroskopie sowohl für niederohmige Komponenten wie Shunt-Widerstände und Zwischenkreiskondensatoren als auch für hochohmige Systeme. Er bietet Messmodi für die Impedanzanalyse über Frequenz und Zeit sowie weitere Funktionen wie integrierte Oszilloskop- und Spektrumanalysator-Funktionen.
Dr. Philipp Weigell, Vice President des Marktsegments Industry, Components, Research & University bei Rohde & Schwarz, erklärt: „Die PCIM Expo ist für uns ein wichtiges Forum. Wir präsentieren dort unsere Fortschritte beim Testen von Halbleitern mit großer Bandlücke. Tests sind von entscheidender Bedeutung für die Verbesserung der Energieeffizienz, die Reduzierung der Größe und ein effektiveres Wärmemanagement bei Leistungsumwandlungsanwendungen, die beispielsweise in KI-Rechenzentren eine Rolle spielen. Dank der Zusammenarbeit mit Branchenexperten und unserer innovativen Testlösungen ermöglichen wir unseren Kunden die Entwicklung zuverlässiger und effizienter Systeme, die den hohen Anforderungen moderner Datenverarbeitungsanwendungen gerecht werden.“
Rohde & Schwarz präsentiert diese und weitere innovative Testlösungen auf der PCIM Expo 2025 vom 6. bis 8. Mai an Stand 166 in Halle 7 des Messezentrums Nürnberg. Weitere Informationen zu den Leistungselektronik-Testlösungen von Rohde & Schwarz finden sich unter: https://www.rohde-schwarz.com/power-electronics
Ansprechpartner für Presse und Medien
Christian MokryPR Manager Test & measurement
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Rohde & Schwarz
Rohde & Schwarz steht in seinen drei Divisionen Test & Measurement, Technology Systems und Networks & Cybersecurity für eine sichere und vernetzte Welt. Seit über 90 Jahren verschiebt der global agierende Technologiekonzern bei der Entwicklung von Spitzentechnologie die Grenzen des technisch Machbaren. Seine führenden Produkte und Lösungen befähigen Kunden aus Wirtschaft, Behörden und hoheitlichem Umfeld zur Gestaltung ihrer technologischen und digitalen Souveränität. Das Familienunternehmen mit Hauptsitz in München handelt unabhängig, langfristig und nachhaltig. Im Geschäftsjahr 2023/2024 (Juli bis Juni) erwirtschaftete Rohde & Schwarz einen Umsatz von 2,93 Milliarden Euro. Zum 30. Juni 2024 betrug die weltweite Zahl der Mitarbeitenden mehr als 14 400.
R&S® ist eingetragenes Warenzeichen der Firma Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG.