Rohde & Schwarz präsentiert auf der embedded world Exhibition & Conference in Nürnberg seine innovativen Messtechniklösungen für die Embedded-Branche. Messebesucher finden den Messtechnik-Experten vom 11. bis 13. März 2025 an Stand 4-218 in Halle 4 des Messezentrums Nürnberg. Die Veranstaltung bietet Besuchern die Gelegenheit, mit den Experten des Unternehmens ins Gespräch zu kommen und die neuesten Technologien kennenzulernen, die das Potential bieten, die Energieeffizienz von Geräten zu verbessern, bei der Entwicklung schneller die EMV-Konformität zu erreichen, digitale Protokolle effizienter zu debuggen und gesetzliche Normen für Funkschnittstellen zuverlässig einzuhalten.
Energieeffizienz und Zuverlässigkeit in Leistungselektronik
Auf der embedded world zeigt Rohde & Schwarz mit den Oszilloskop-Serien MXO 4, MXO 5 sowie der für den Gestelleinbau optimierten MXO 5C Serie seine stetig wachsende Palette an Oszilloskopen der nächsten Generation. Messebesucher können außerdem das R&S ScopeStudio erleben, eine neue Lösung, die die Funktionalität des MXO auf einem PC verfügbar macht und so das Visualisieren, Analysieren und Teilen von Oszilloskopmessungen vereinfacht. In Kombination mit passenden hochwertigen aktiven und passiven Tastköpfen stellen die extrem schnellen MXO Oszilloskope ein unverzichtbares Hilfsmittel für Entwicklungsingenieure dar, die die Zuverlässigkeit ihrer Leistungselektronik und anderer Embedded-Systeme optimieren möchten.
Beispielsweise bietet das achtkanalige MXO 5 Oszilloskop in Verbindung mit dem isolierten Tastkopfsystem R&S RT-ZISO einzigartige Präzision, Empfindlichkeit, Messdynamik und Bandbreite. Dank dieser Merkmale ist es die ideale Lösung für die Charakterisierung und Verifizierung sowie das Debugging der nächsten Generation von Leistungselektronik-Designs mit großer Bandlücke (WBG). Mit WBG-Materialien wie SiC und GaN erreichen Leistungselektronik-Designs eine höhere Effizienz. Die schnellen Schaltvorgänge des WBG-Halbleiters müssen aber gründlich charakterisiert werden. In einem anderen Aufbau wird gezeigt, wie das MXO 5 Oszilloskop die Validierung des Designs mehrphasiger Abwärtswandler vereinfacht und zuverlässige Ergebnisse verspricht. Als SoC realisierte mehrphasige Hochgeschwindigkeits-Abwärtswandler bieten Vorteile für den Betrieb von Big Data- und anderen Anwendungen, wo niedrige Spannungen, hohe Ströme und schnelle Schaltzeiten benötigt werden.
Bei batteriebetriebenen Geräten ist die Batterielaufzeit ein entscheidender Designaspekt. Ein Batteriesimulationsaufbau, in dem die R&S NGU Source Measure Unit zum Einsatz kommt, lässt Messebesucher in Echtzeit verfolgen, wie sich GPS auf den Stromverbrauch auswirkt. Mit einem neuartigen Analysetool können Entwickler die von der R&S NGU gesammelten Stromverbrauchsdaten untersuchen und den Stromverbrauch in allen Phasen sowie beim Übergang vom Ruhezustand in den aktiven Modus bestimmen.
Fehlersuche bei elektromagnetischen Emissionen und EMI-Konformitätstests
Jeder elektronische Controller ist anfällig für geleitete und gestrahlte elektromagnetische Emissionen. Eine frühzeitige Fehlersuche zur Isolation und Korrektur von EMI-Problemen trägt zu einer schnelleren Markteinführung bei. Als führender Anbieter von EMV-Messtechnik präsentiert Rohde & Schwarz Lösungen, die EMI-Tests in den Produktentwicklungsprozess integrieren. Besucher können lernen, wie das R&S RTO6 Oszilloskop für die EMI-Fehlersuche oder der R&S EPL1000 Funkstörmessempfänger für geleitete EMI-Messungen eingesetzt werden können. Der R&S EPL1000 liefert schnelle, genaue und zuverlässige EMI-Precompliance- und Konformitätsmessungen bis 30 MHz. In der Klasse der vollständig CISPR 16-1-1-konformen Empfänger adressiert das Gerät mit äußerst wettbewerbsfähigen Preisen sowohl Geräteentwickler als auch Konformitätstesthäuser.
Verifizieren der Signalintegrität in digitalen Hochgeschwindigkeits-Designs
Digitale Hochgeschwindigkeitsschnittstellen sind aus elektronischen Designs nicht wegzudenken. Die immer höheren Datenraten und Integrationsdichten sorgen auf IC-, Board- und Systemebene für Herausforderungen. Messebesucher können sich am Stand von Rohde & Schwarz über leistungsstarke Werkzeuge zur Systemverifizierung und Fehlersuche sowie Konformitätstests für Hochgeschwindigkeits-Schnittstellen, Leiterplatten und Verbindungen informieren. Bei Demonstrationen mit dem R&S RTP164B Oszilloskop werden leistungsstarke Verifizierungs- und Debugging-Tools für DDR5-Systemdesigns und Automotive-Ethernet-MGBase-T1-Geräte gezeigt.
Rohde & Schwarz stellt auf der embedded world den brandneuen R&S ZNB3000 Vektornetzwerkanalysator vor. Dieser Analysator definiert neue Maßstäbe für Geschwindigkeit, Präzision und Vielseitigkeit. Dank branchenführendem Dynamikbereich, hoher Messgeschwindigkeit und skalierbaren Upgrades eignet er sich perfekt auch für anspruchsvollste Aufgaben wie Datenübertragungs- und Signalintegritätsanwendungen. Messebesucher können die fortgeschrittenen Deembedding-Methoden des Geräts erleben, die präzise und effiziente S-Parameter-Messungen unterstützen. Diese Methoden erlauben es, auf benutzerfreundliche Weise den Prüfadapter zu charakterisieren, die S-Parameter zu extrahieren und den Prüfadapter dann zu kompensieren.
Bluetooth- und Wireless-Konnektivitätstests
Bluetooth® ist die führende Technologie für die drahtlose Kommunikation mit geringer Reichweite und niedrigem Stromverbrauch. Mit der CMW Plattform bietet Rohde & Schwarz eine umfassende, vollautomatische und von der Bluetooth® SIG zugelassene Testlösung zur Verifizierung der Funktionalitäten der Bitübertragungsschicht der neuen Spezifikationen für Bluetooth® Low Energy (LE) und Bluetooth® Classic. Die R&S CMW270 Testplattform für Wireless-Konnektivitätstests, die auf der embedded world zu sehen ist, verifiziert die neue LE-Funktion Bluetooth® Channel Sounding (CS), die die Positionsbestimmungsfähigkeiten von Geräten durch hochgenaue Entfernungsmessungen verbessert.
Die nächste Generation der WLAN-Technologie, die für extrem hohen Datendurchsatz ausgelegt ist, wird leistungsfähiger und effizienter, aber auch komplexer sein. Der zukunftssichere R&S CMP180 Radio Communication Tester ist das ideale Gerät für typische Messungen an NR FR1-, UWB-, Wi-Fi 7- und frühen Wi-Fi 8-Geräten während Forschung, Entwicklung und Produktion. Zu den neuen Funktionen des auf der embedded world gezeigten Non-Signaling-Testers gehören Wi-Fi 8- und UWB-Messungen mit Schwerpunkt auf der Produktion.
Messebesucher können diese und andere Testlösungen für die Embedded-Branche am Rohde & Schwarz-Stand 4-218 in Halle 4 auf der embedded world Exhibition & Conference vom 11. bis 13. März 2025 in Nürnberg in Augenschein nehmen. Weitere Informationen finden sich unter: www.rohde-schwarz.com/embedded-world
