製品のカタログおよびデータシート Isolated probing system

R&S®RT-ZISO 絶縁プロービング・システムは、光プローブテクノロジーの新しい基準を打ち立てます。この革新的なソリューションは、比類ない確度、感度、ダイナミックレンジ、帯域幅を実現しており、次世代のワイドバンドギャップ（WBG）半導体であるSiCやGaNベースの電源設計を可能にします。R&S®RT-ZISOは立ち上がり時間が450 ps未満で、±60 kVのコモンモード電圧において最大±3,000 Vまで正確な差動測定を実行できます。このソリューションにより、正確な測定の歪みや妨害の原因になる急峻なコモンモードエッジを抑制することができます。

The R&S®RT-ZISO isolated probing system sets new standards in optical probe technology. The innovative solution delivers unparalleled accuracy, sensitivity, dynamic range and bandwidth while enabling next-generation wide bandgap (WBG) SiC and GaN power designs. The remarkable R&S®RT-ZISO can make precise differential measurements up to ±3000 V on common mode voltage of ±60 kV with rise times up to < 450 ps. The solution can suppress fast common mode edges that would otherwise distort and disturb accurate measurements.

R&S®RT-ZISO Isolated Probing System - Fact Sheet カタログおよびデータシート

R&S®RT-ZISO Isolated Probing System versus Tektronix IsoVu TIVP - Comparison Sheet カタログおよびデータシート

Oscilloscope test applications include debugging complex electronic circuits, measuring high-speed-bus signal integrity and characterizing power electronics with hazardous voltage levels. Measurement accuracy and operator safety depend on these probes and accessories.

This document provides the technical specifications of the R&S®RT-Zxx high voltage and current probes

Power electronics T&M solutions | Component testing, product design, production and compliance testing - Flyer カタログおよびデータシート Flyer

Power electronics T&M solutions | パワーエレクトロニクス 電子計測ソリューション | Component testing, product design, production and compliance testing | コンポーネントテスト、製品設計、製造、コンプライアンステスト - Flyer カタログおよびデータシート Flyer

オシロスコープのテストアプリケーションには、複雑な電子回路のデバッグ、高速バスのシグナルインテグリティーの測定、危険な電圧レベルを伴うパワーエレクトロニクスの特性評価などが含まれます。測定確度とオペレーターの安全性は、プローブとアクセサリに依存します。