background

R&S®LCX-K106 高度解析機能掃引ツール

R&S®LCX LCRメータ用の掃引ツールを使用すれば、テスト信号の周波数、レベル、DCバイアスを掃引することにより、ダイナミックインピーダンス測定を実行できます。

リクエスト情報

Do you have questions or need additional information? Simply fill out this form and we will get right back to you.
For service/support requests, please go here to log in or register.

マーケティング・パーミッション

お問い合わせ内容が送信されました。 後ほどご連絡致します。
An error is occurred, please try it again later.