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415 結果

関連性

Signal model based approach to joint jitter and noise decomposition - First published at DesignCon 2020 - White Paper

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TC8 – OPEN Alliance - Flyer

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R&S®RT-Zxx High Voltage and Current Probes - Specifications

This document provides the technical specifications of the R&S®RT-Zxx high voltage and current probes

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広帯域ミリ波信号の発生と解析

このアプリケーションノートでは、変調帯域幅を2 GHzまで拡張して、VバンドとEバンドの両方の例を示して解説します。

6月 18, 2015 | AN 番号 1MA257

R&S I/Qデータファイルの変換

このアプリケーションノートでは、付属のソフトウェアツールを使用して、さまざまなRohde&Schwarz I/Qファイルフォーマットを相互に変換する方法を説明します。

9月 23, 2015 | AN 番号 1EF85

ダブルパルステストのヒントとテクニック

テストセットアップの設計から確度の高い測定の実行まで

このアプリケーションノートでは、ダブルパルステストセットアップの重要な要素と確度の高い測定の実行方法について説明します。ダブルパルステストは、標準的なテスト手法です。

3月 22, 2021 | AN 番号 GFM347

O-RAN無線ユニットのエネルギー効率を検証する

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3月 19, 2024

Selecting your next oscilloscope: Why digital triggering matters | 选择下一代示波器: 数字触发的重要性 - White Paper

本白皮书包含以下内容:- 模拟和数字触发架构 - 数字触发示波器的优势 - 如何辨别数字或模拟触发示波器

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Selecting your next oscilloscope: Why fast update rate matters | 选择下一代示波器: 为什么更高的波形捕获率很重要 - White Paper

Selecting your next oscilloscope: Why fast update rate matters | 选择下一代示波器: 为什么更高的波形捕获率很重要 - White Paper カタログおよびデータシート White Paper

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Selecting your next oscilloscope: Why digital triggering matters - White Paper

This document provides: - An explanation of analog versus digital triggering architectures - User advantages for oscilloscopes that have digital triggering - How to determine if an oscilloscope has a digital or analog trigger

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This document provides: - An explanation of update rate - How users can quickly perform their own update rate characterization - How to compare vendor update rates - Benefits of fast update rate

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Oct 04, 2018 | プレスリリース

Rohde & Schwarz and Spirent announce collaboration for TC8 Automotive Ethernet testing

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LoRaデバイスの特性評価

このアプリケーションノートでは、LoRa無線技術を用いるデバイスの開発者およびメーカーに対して、FCC Part 15.247に従ってトランスミッター測定を実施する方法を示します。

11月 29, 2017 | AN 番号 1MA295

Oscilloscopes for debugging automotive Ethernet networks - Application Brochure

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Jun 08, 2022 | プレスリリース

Rohde & Schwarz presents its full range of embedded systems test solutions at embedded world 2022

Nuremberg will be home to the international embedded industry once again during embedded world Exhibition & Conference. Rohde & Schwarz will be showing its latest test solutions from June 21 to 23, 2022 at booth 4-218 of Nuremberg Exhibition Centre. There, visitors can experience product highlights like the new generation of the R&S RTP high-performance oscilloscope, and they can learn from the Rohde & Schwarz experts about state-of-the art test solutions for all kinds of embedded systems.

10月 12, 2022 | プレスリリース

ローデ・シュワルツが強力サポート―NXP Semiconductors社と連携する車載レーダー・メーカーCubtek社 の4Dイメージング・レーダー・プラットフォーム発売

ローデ・シュワルツのデジタル・オシロスコープは、ポータブルな R&S RTH シリーズから、ミッドレンジの R&S MXO4 、ハイエンドの R&S RTO6 や R&S RTP シリーズまで幅広いラインナップをご用意しています。特にR&S RTP シリーズでは、FMCW信号の復調帯域幅も解析可能です。そのローデ・シュワルツが、低ノイズかつ高い性能を実現するためASICを自社開発し、車載レーダーの研究開発に最適な測定ツールを創り上げました。

R&S®VSE-K106/FSx-K106/FPS-K106 EUTRA/LTE NB-IoT Measurement Application - Specifications

R&S VSE-K106/FSx-K106/FPS-K106 EUTRA/LTE NB-IoT Measurement Application - Specifications

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自動車用レーダーセンサ - RF信号解析と干渉テスト

このアプリケーションノートでは、自動車用レーダーの開発と検証の段階で重要な役割を果たす信号測定と解析について説明します。

6月 10, 2016 | AN 番号 1MA267

R&S®RT-ZM Modular Probe System | モジュラープローブ・システム - Flyer

このR&S®RT-ZM モジュラープローブ・システムは、現在のプロービング要件に対応する、高度な技術と使いやすさを兼ね備えたソリューションです。

R&S®RT-ZM Modular Probe System | モジュラープローブ・システム - Flyer
R&S®RT-ZM Modular Probe System | 모듈러 프로브 시스템 - Flyer

R&S®RT-ZM Modular Probe System은 정교한 기술과 간단한 사용법으로 오늘날의 프로빙 요구 사항을 해결합니다.

R&S®RT-ZM Modular Probe System | 모듈러 프로브 시스템 - Flyer
R&S®RT-ZM Modular Probe System - Flyer

The R&S®RT-ZM modular probe system addresses current probing requirements with a technologically sophisticated yet easy-to-use solution.

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Oscilloscope Buyer's Guide | How to choose an oscilloscope - Flyer

This guide covers the most important aspects of selecting an oscilloscope and provides you with the knowledge to make the best choice for your needs.

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Oscilloscope innovation. Measurement confidence. - Poster

Oscilloscope innovation. Measurement confidence. - Poster

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Jul 11, 2022 | プレスリリース

Rohde & Schwarz showcases its market-leading, reliable EMC test solutions at EMV in Cologne

At the EMC event EMV in Cologne, Rohde & Schwarz demonstrates a comprehensive range of EMC test and measurement solutions – ranging from standalone instruments and software to application-specific systems. As a highlight, the company unveils an important enhancement to the R&S ESW EMI test receiver, the new 1GHz bandwidth extension. The Rohde & Schwarz solutions are on display from July 12 to 14, 2022 at the Cologne exhibition center, hall 10.2, booth 112.

ラボから製造ラインまでのSigfoxデバイスの特性評価

このアプリケーションノートでは、Sigfoxデバイスの開発者やメーカーが、ローデ・シュワルツのテストソリューションを使用して必要な測定と推奨される測定を実行する手順を示します。

11月 15, 2017 | AN 番号 1MA294

Malware Protection Windows 7

Rohde & Schwarz recognizes the potential risk of computer virus infection when con-necting Windows®-based test instrumenta-tion to other computers via local area net-works (LANs), or using removable storage devices.

Jan 27, 2015 | AN 番号 1DC01

Selecting your next oscilloscope: Why deep memory matters | 选择下一代示波器: 深存储的重要性 - White Paper

本指南将介绍以下内容:- 示波器采集存储的定义 - 存储和其他示波器参数的关系 - 深存储的作用示例

Selecting your next oscilloscope: Why deep memory matters | 选择下一代示波器: 深存储的重要性 - White Paper
5G NR Measurement Application VSE-K144 / -K146 / -K148 / -K171 / -K175 / FSx-K144 / -K145 / -K147 / -K148 / -K171 / -K175 / FPS-K144 / -K148 - Specifications

This document provide the technical specifications of the R&S®FSW-K144/-K145/-K147/-K147C /-K148/-K171/-K175, the R&S®FSV3-K144/-K145/-K147/-K147C/-K148/-K171/-K175, R&S®FPS-K144/-K148 and the R&S®VSE-K144/-K146/-K148/-K171/-K175

R&S®5G NR Measurement Application VSE-K144 / -K146 / -K148 / -K171 / -K175 / FSx-K144 / -K145 / -K147 / -K148 / -K171 / -K175 / FPS-K144 / -K148 - Specifications
Selecting your next oscilloscope: Why deep memory matters - White Paper

This document provides: - A description of how oscilloscope acquisition memory is defined - Insight into the relationship between memory and other oscilloscope parameters - Examples where deep memory provides value

Selecting your next oscilloscope: Why deep memory matters - White Paper

Mar 01, 2023 | プレスリリース

Embedded world 2023: Rohde & Schwarz showcases its state-of-the-art test solutions for embedded systems

Embedded systems are at the core of today’s electronic devices, whether in consumer electronics, telecommunications, industrial, medical, automotive or aerospace applications. Flawless operation is crucial, and engineers face complex challenges when designing ever more compact embedded systems which meet today’s demands of efficiency, safety, reliability and interoperability. Rohde & Schwarz addresses these challenges with its wide-ranging test and measurement solutions showcased at the embedded world Exhibition & Conference 2023 in Nuremberg.

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