154 結果
4ポートのR&S®ZVA ベクトル・ネットワーク・アナライザは、2つの内蔵信号源と自動レベル制御(ALC)を備え、R&S®BBA150 広帯域アンプと組み合わせることにより、超高速のPIM測定を実現する独自のソリューションとなります。ALCを使用することにより、熱/パワーセトリング時間の問題と、アンプの出力パワー変動の問題を解決し、テスト時間を数分から1秒未満に短縮しました。 ZVA ベクトル・ネットワーク・アナライザ, PIM, ニュルンベルクで開催されたEuropean Microwave Week 2013で、ローデ・シュワルツはデュプレックスフィルターの高速で正確な相互変調ひずみ(PIM)テストのデモを行いました。
このアプリケーションノートでは、ベクトル・ネットワーク・アナライザで利用できるポート数よりも少ない数のポートを搭載した校正ユニットを使用して、nポートのマルチポート校正を行う方法について説明します。
2月 06, 2013 | AN 番号 1EZ70
How do I calculate these frequency points when I have a logarithmic sweep and know the center frequency, the span and the number of sweep points?
このアプリケーションノートでは、Windows®ベースのR&S®測定器がローカルで動作しているかのように、Android™タブレットでリモート操作する方法を説明します。
8月 22, 2013 | AN 番号 1MA236
このアプリケーションノートでは、コンパクトで使いやすいソリューションによる位相コヒーレント信号の作成方法について説明します。
9月 07, 2016 | AN 番号 1GP108
このアプリケーションノートと対応するホワイトペーパー1MA207では、R&Sレーダー製品のポートフォリオを使用して、最新のレーダーテクノロジーのテスト/測定作業を実行する方法を説明します。
8月 10, 2012 | AN 番号 1MA127
Russian version - Измерения в диапазоне миллиметровых волн с использованием преобразователей семейства R&S®ZVA
Russian version - Измерение S22 усилителя в «горячем» режиме с импульсными сигналами на анализаторе цепей R&S®ZVA
このアプリケーションノートでは、軍事用無線機でのSDRの使用と、ローデ・シュワルツから提供されている関連する電子計測ソリューションについて紹介します。
9月 15, 2012 | AN 番号 1MA206
R&S®ZV-Z9x, ZV-Z19x Test Port Cables - Specifications
R&S®LegacyPro - Instrument emulation – breathing new life into existing test systems - Brochure
このローデ・シュワルツのソリューションは、研究室だけでなく製造ラインにおいても、TXビームフォーミング・パッシブ・アレイ・アンテナのテストに必要なスピード、精度、利便性を提供します。
5月 04, 2018
近傍界範囲でのスキャンと、近傍界から遠方界への変換方法の適用により、アンテナアレイの単一エレメントの不具合の特定が可能です。
3月 24, 2020
This document provides the technical specifications of the R&S®ZCxxx millimeterwave converters.
RPG ZRXxxx Millimeterwave Receiver - Specifications
R&S®VISAは、PCアプリケーションで検出されたネットワーク上のさまざまな電子計測器とのさまざまなインタフェースを経由した高速通信を可能にする、標準化されたソフトウェアライブラリです。
5月 26, 2020 | AN 番号 1DC02
Testing TRM performance of modern AESA antennas - Flyer
このアプリケーションノートでは、MathWorksのMATLABからローデ・シュワルツの測定器をリモート制御するための2種類の手法について概要を説明します。
6月 12, 2017 | AN 番号 1MA171
This application note reviews a new calibration subsystem which consists of Inline Calibration Units (ICUs). These ICUs are designed for in situ use, so they are left in place both during the calibration procedure and during the measurement of the Device Under Test (DUT).This adds versatility, convenience and accuracy to the VNA based measurement system, as it means the calibration can be refreshed at any time without manually disconnecting the DUT from the test system.
Sep 29, 2017 | AN 番号 1EZ71
Development Hints and Best Practices for Using Instrument Drivers
Jan 01, 2013 | AN 番号 1MA153