図 3：NO2 /H ダイヤモンド MOSFET の IDS-VDS 特性 図 3：NO2 /H ダイヤモンド MOSFET の IDS-VDS 特性 オシロスコープの活用 さまざまな測定器を使いこなす佐賀大学において、オシロスコープはローデ・シュワルツの R&S RTO1000 を使用しています。ナノ秒レベルの計測が必要となる、RF-DC変換時のスイッチング特性をパルスで計測する際に使用し、広帯域でありながら、ハイスピードな測定ができるローデ・シュワルツのオシロスコープが活躍しています。基本的な測定を含めると、研究室に属する全ての学生が、オシロスコープを操作しますが、高機能で画面も大きく、使いやすいので、スムーズに研究に取り組むことができます。

R&S RT-Zxx High Bandwidth Probes - Specifications

Models: R&S®RTO-K26, R&S®RTO6-K26, R&S®RTP-K26, R&S®RTO-K27, R&S®RTO6-K27, R&S®RTP-K27

May 27, 2024 | Press Release | Test & measurement

Rohde & Schwarz will showcase its latest solutions for power electronics testing at PCIM Europe in Nuremberg, addressing challenges of testing and debugging the next generation of wide bandgap semiconductors in power electronic converters.

6月 11, 2024 | Press Release | Test & measurement

Rohde & Schwarz has developed the R&S RT-ZISO isolated probing system for extremely accurate measurements of fast switching signals, especially in environments with high common-mode voltages and currents.

Models: R&S®RTO-K92, R&S®RTO6-K92

Models: R&S®RTO-K87, R&S®RTP-K87, R&S®RTO6-K87

Models: R&S®RTO-K88, R&S®RTP-K88, R&S®RTO6-K88

Models: R&S®RTP-K25, R&S®RTO-K25, R&S®RTO6-K23

Models: R&S®RTO-K24, R&S®RTP-K24, R&S®RTO6-K24

Models: R&S®RTP-K89, R&S®RTO-K89, R&S®RTO6-K89

Models: R&S®RTO-K86, R&S®RTP-K86, R&S®RTO6-K22

Models: R&S®RTP-K81, R&S®RTO-K81, R&S®RTO6-K81, R&S®RTP-K83

Models: R&S®RTO-K21, R&S®RTO6-K21, R&S®RTP-K21, R&S®RTP-K101, R&S®RTP-K102

Jun 06, 2023 | Press Release | Test & measurement

At Automotive Testing Expo Europe 2023 in Stuttgart, Rohde & Schwarz will demonstrate a wide range of cutting-edge test solutions that support automotive applications. With test solutions on show that cover automotive radar, Ethernet, 5G and UWB, the company enables the automotive industry to make the next level of autonomous driving reality.

Perform interface tests during your USB design process and verify the compliance with USB test solutions from Rohde & Schwarz > Get more information!

Oct 01, 2024 | Press Release | Test & measurement

Rohde & Schwarz exhibits advanced T&M solutions that address emerging challenges in consumer electronics development at CETEX Consumer Electronics Test & Development Forum and Expo at RAI in Amsterdam.

I want to export the waveform data of my RTO scope into MATLAB, but the only way I found so far is the screenshot option. Is there another way to use the trace data in my script?

Verify and debug digital systems by triggering protocol events with our test solutions ► Get more information!

R&S®RTO オシロスコープは、ヒストリーモードを使用して、こうした信号の収集と詳細な信号解析をサポートしています。ヒストリーモードでは、以前の収集に戻って、RTOの幅広い解析機能を適用することができます。

6月 03, 2013 | AN 番号 1TD02

Mar 06, 2025 | Press Release | Test & measurement

Rohde & Schwarz is set to present a comprehensive suite of EMC and field strength test equipment at the EMV show 2025 in Stuttgart from March 25 to 27, 2025. The display will include standalone instruments, software, and systems designed to meet various industry standards. The solutions support commercial, automotive, military and aerospace standards, as well as ETSI and FCC standards. Visitors can witness these innovative demonstrations at booth number 615.

このアプリケーションノートでは、従来のトリガシステムの動作原理を紹介し、RTOオシロスコープのリアルタイムデジタルトリガの利点について説明します。

4月 11, 2012 | AN 番号 1ER04

R&S®RTO於EMI問題的分析與應用

広く使用されている測定機器言語SCPIの簡単な説明

ローデ・シュワルツのeMMCコンプライアンステストのユーザ・マニュアル。テスト手順が記載されています。

ローデ・シュワルツのDDR3コンプライアンステストのユーザ・マニュアル。テスト手順が記載されています。

ローデ・シュワルツのD-PHYコンプライアンステストのユーザ・マニュアル。テスト手順が記載されています。

R&S RTO/R&S RTP USB 2.0/3.2コンプライアンステスト・ユーザ・マニュアル。このユーザ・マニュアルには、USB 2.0コンプライアンステストの手順が記載されています。

このアプリケーションノートでは、デジタル信号用R&S®RTOのジッタ解析機能を説明します。アプリケーション例を用いて基本的な操作を示し、関連するジッタ解析を紹介します。

8月 29, 2013 | AN 番号 1TD03

このアプリケーションノートでは、ブラインドタイムの背景について説明し、高い捕捉レートが重要になる理由を示します。さらに、R&S RTO オシロスコープの機能と、これらの機能がデバッグ、測定、解析の迅速化に役立つ理由についても説明します。

5月 17, 2011 | AN 番号 1ER02