Isolated probing system - Broschüren und Datenblätter

The R&S®RT-ZISO isolated probing system sets new standards in optical probe technology. The innovative solution delivers unparalleled accuracy, sensitivity, dynamic range and bandwidth while enabling next-generation wide bandgap (WBG) SiC and GaN power designs. The remarkable R&S®RT-ZISO can make precise differential measurements up to ±3000 V on common mode voltage of ±60 kV with rise times up to < 450 ps. The solution can suppress fast common mode edges that would otherwise distort and disturb accurate measurements.

R&S®RT-ZISO Isolated Probing System - Fact Sheet Broschüren und Datenblätter

Das R&S®RT-ZISO isolierte Tastkopfsystem setzt neue Maßstäbe für die Technologie optischer Tastköpfe. Diese innovative Lösung zeichnet sich durch bisher unerreichte Genauigkeit, Empfindlichkeit, Dynamik und Bandbreite aus und ermöglicht das Vermessen neuartiger Leistungselektronik auf Basis von SiC- und GaN-Halbleitern mit großer Bandlücke (Wide Bandgap, WBG). Die herausragende Leistung des R&S®RT-ZISO Systems ermöglicht präzise differenzielle Messungen bis ±3000 V an Gleichtaktspannungen von ±60 kV bei Anstiegszeiten bis < 450 ps.

R&S®RT-ZISO Isolated Probing System versus Tektronix IsoVu TIVP - Comparison Sheet Broschüren und Datenblätter

This document provides the technical specifications of the R&S®RT-Zxx high voltage and current probes

Power electronics T&M solutions | Component testing, product design, production and compliance testing - Flyer Broschüren und Datenblätter Flyer

Oscilloscope test applications include debugging complex electronic circuits, measuring high-speed-bus signal integrity and characterizing power electronics with hazardous voltage levels. Measurement accuracy and operator safety depend on these probes and accessories.