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VCO MEASUREMENTS with R&S FSPN Phase Noise Analyzer

Next generation technologies in radar and satellite communication with high data rates call for innovative testing solutions to develop and manufacture RF components like voltage controlled oscillators (VCO). The R&S®FSPN phase noise analyzer increases efficiency and reproducibility of VCO characterization and phase noise measurements from lab to production.Voltage controlled oscillators are oscillators whose output frequency is controlled by means of an external tuning voltage, and they are used in a wide variety of electronic and RF applications like function generators, phase-locked loops including frequency synthesizers used in communication equipment. Different VCO design approaches yield different parameters and performance, and therefore it is important to measure or characterize VCOs under different conditions. This application note provides a short technical introduction to voltage controlled oscillators and explains the most common and the most important measurements made during the VCO characterization process.

17.05.2023 | AN-Nr. 1SL386

Verifizierung von Taktquellen

Die Signalreinheit von Taktquellen wirkt sich unmittelbar auf die Systemperformance aus. Um eine einwandfreie Funktion sicherzustellen, muss nachgewiesen werden, dass die Signalreinheit den Designanforderungen entspricht.

30.09.2021

Verifizierung des additiven Phasenrauschens und der Jitter-Dämpfung von PLLs in digitalen Hochgeschwindigkeits-Designs

Höhere Datenraten in digitalen Hochgeschwindigkeits-Designs und bei der drahtlosen Kommunikation erfordern SerDes-Phasenregelschleifen und Clock-Synthesizer mit geringem additiven Phasenrauschen und hoher Jitter-Dämpfung. Moderne Designs basieren häufig auf einer zweistufigen Architektur, die aus einem Jitter-Dämpfungsglied und einem Frequenz-Synthesizer besteht. Aufgrund ihrer hohen Phasenrauschempfindlichkeit sind Phasenrauschmessplätze die bevorzugten Geräte für diese Tests. Zur Anregung der Phasenregelschleife wird eine zusätzliche Signalquelle mit ultraniedrigem Phasenrauschen benötigt.

01.08.2018

Verifizierung der tatsächlichen Jitter-Performance von Taktsignalen in digitalen Hochgeschwindigkeits-Designs

Steigende Datenraten in digitalen Hochgeschwindigkeits-Designs führen zu immer engeren Jitter-Grenzen für das Gesamtsystem. Dies trifft insbesondere auf die unterschiedlichen Komponenten des Taktbaums zu, bei denen die Jitter-Grenzen für Referenztakte, Taktpuffer und Jitter-Dämpfungsglieder sogar noch enger gefasst sind. Aufgrund ihrer hohen Phasenrauschempfindlichkeit sind Phasenrauschmessplätze die bevorzugten Geräte für diese Tests.

08.05.2018

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