Regelkreisanalyse

Leistungswandler

Analyse des Schaltverhaltens

Lösungen für die Schaltanalyse von Leistungswandlern

Zur Steigerung der Performance und des Wirkungsgrads von Leistungswandlern wird häufig die Schaltfrequenz erhöht. Bei einer Erhöhung der Schaltgeschwindigkeit bei Leistungselektronik-Designs sind das Zeitverhalten, die Interaktion zwischen High-Side- und Low-Side-Transistoren und unerwünschte Effekte wie Kurzschluss (Shoot-Through) und hohe elektromagnetische Störaussendungen (EMI) zu berücksichtigen. Oszilloskope, Leistungstastköpfe und Software von Rohde & Schwarz helfen Entwicklern von Leistungselektronik, diese Probleme bei der Charakterisierung und Optimierung ihrer Designs zu lösen.

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Schaltanalyse von Wide-Bandgap-Bauelementen
Schaltanalyse von Wide-Bandgap-Bauelementen
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Vermehrte Nutzung von Wide-Bandgap-Materialien anstelle von Silizium

Auf dem Markt sind immer mehr Leistungswandler-Designs zu finden, die auf Wide-Bandgap-(WBG)-Materialien wie SiC und GaN setzen. Die hohe Schaltgeschwindigkeit von WBG-Halbleitern muss umfassend charakterisiert werden, um Leistungsverluste beim Schalten und im leitenden Zustand zu bestimmen, den Wirkungsgrad zu optimieren und negative Effekte wie Kurzschluss (Shoot-Through) und hohe elektromagnetische Störaussendungen (EMI) zu vermeiden. Ein Rohde & Schwarz Oszilloskop mit hoher Auflösung und niedrigem Rauschen kombiniert mit einem Rohde & Schwarz differenziellen Hochspannungstastkopf mit ausgezeichneter Gleichtaktunterdrückung über einen weiten Frequenzbereich ermöglicht Entwicklern von Leistungswandlern folgende Messungen:

  • Präzise Messung von Leistungsverlusten beim Schalten und in leitendem Zustand
  • Verifizierung von Anstiegs-/Abfallzeiten vom dreistelligen ps-Bereich bis in den zweistelligen ns-Bereich
  • Charakterisierung von Zeitereignissen wie z. B. Totzeiten

Lesen Sie das Fact Sheet zu den differenziellen Hochspannungstastköpfen von Rohde & Schwarz:

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Hochauflösende Oszilloskope und differenzielle Hochspannungstastköpfe der Spitzenklasse
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Messgeräte für die Schaltanalyse

Die Designs von Leistungswandlern sehen höhere Schaltfrequenzen und zunehmend auch höhere Spannungen vor. Für präzise Schaltanalysemessungen sind ein hochauflösendes Oszilloskop und differenzielle Hochspannungstastköpfe mit ausgezeichneter Performance, großem Gegentakt- und Gleichtaktspannungsbereich und einer hohen Gleichtaktunterdrückung über die gesamte Bandbreite erforderlich.

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