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一般検索を使用して、製品、ソリューション、ダウンロードに関連する情報をすばやく検索できます。キーワードを入力し、カテゴリを選択し、アクティブなサブカテゴリから選択して、必要な情報を入手できます。
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189 結果
ロードプル, VNA, ZNA, ベクトルレシーバー, チューナー, デバイス特性 Maury MicrowaveのチューナーおよびIV CADソフトウェアと、R&S ZNA ベクトル・ネットワーク・アナライザを組み合わせて使用すれば、ベクトルレシーバー・ロードプルを簡単に測定できます。
Welcome to Rohde & Schwarz webinar VNA: Noise Figure Measurements.
Test & Mesure, Analyseurs de réseaux vectoriels Visionnez en replay le webinar Les basiques du ZNA en 30 minutes. Regardez maintenant.
Jul 19, 2022 | プレスリリース | Test & measurement
Rohde & Schwarz announces on-wafer device characterization test solutionRohde & Schwarz now offers a test solution for full RF performance characterization of the DUT on-wafer which combines the powerful R&S ZNA vector network analyzer from Rohde & Schwarz with industry-leading engineering probe systems from FormFactor. As a result, semiconductor manufacturers can perform reliable and repeatable on-wafer device characterization in the development phase, during product qualification and in production.
パルスの基礎 この最終ビデオでは、パルスを時間に応じて解析できる、ZNAネットワーク・アナライザの特殊なモードを紹介します。このモードでは、RFパルスの「オンタイム」中に発生している事象をより高い分解能で解析することができます。 この最終ビデオでは、パルスを時間に応じて解析できる、ZNAネットワーク・アナライザの特殊なモードを紹介します。このモードでは、RFパルスの「オンタイム」中に発生している事象をより高い分解能で解析することができます。 ZNA, パルスの基礎 ベクトル・ネットワーク・アナライザによるパルスド測定の実行
ローデ・シュワルツのミリ波、6G/テラヘルツ技術に関する最先端テクノロジーと関連技術資料ダウンロード、開発に向けた取り組みをぜひご覧ください
ローデ・シュワルツは、RFパワーアンプ、RFフロントエンドなどのアクティブコンポーネントの特性評価という、困難で広範囲に及ぶ作業を簡素化します。
R&S®ZNA ベクトル・ネットワーク・アナライザ - メディアセンター
既存のリミットラインがあります。垂直オフセットを適用することはできますか?
すべてのトレースのデータをまとめて問い合わせる方法はありますか?
VNA - 校正でのスライディングマッチは本当に必要か?
リモートコマンドによる2つのチャネルの同時校正
SCPIコマンドを使用してトレースの値を問い合わせていますが、y値しか取得できません。y値(周波数)を取得することは可能でしょうか?
アクティブな校正キットまたは校正ユニットに、選択した校正手順に必要なすべての基準が含まれていません。
Is it possible to automatically restart a ZNB with return of the AC power?
Export complex data of a trace with mathematics and time gating.
1つのチャネルでマーカーを使って複数のトレースを使用しています。マーカー1の結果の問い合わせを行うと、常にトレース1の応答が返ってきます。トレース2のマーカー1の結果を得るにはどうすればよいですか?
手持ちのデバイスにファイルが入っています。どうすればこれを簡単な方法でPCに移動できますか?
Mar 26, 2024 | プレスリリース | Test & measurement
embedded world 2024: Rohde & Schwarz presents its cutting-edge test solutions for embedded systemsRohde & Schwarz offers comprehensive test and measurement solutions for embedded design challenges for today’s requirements for efficiency, safety, reliability and interoperability. The highlights will be showcased at the embedded world Exhibition & Conference 2024 in Nuremberg, Germany.
Gets you started with the R&S®ZNXSIM Vector Network Analyzer PC Simulation
本器を使い始めるために必要な情報を提供します。 基本的な操作および取り扱い方法を説明します。
R&S®ZN-Z1xx Calibration Kits - Specifications
Sep 03, 2024 | プレスリリース | Test & measurement
Rohde & Schwarz presents its top-notch RF and microwave test solutions at the EuMW 2024 in ParisT&M specialist Rohde & Schwarz will present its industry-leading portfolio at European Microwave Week in Paris for various application fields, pushing the limits in the Gigahertz to Terahertz frequency ranges.
How do I calculate these frequency points when I have a logarithmic sweep and know the center frequency, the span and the number of sweep points?
Enhance your knowledge. With the Rohde & Schwarz webinar series on satellite testing.
校正キットR&S®ZN-Z170, ZN-Z135, ZN-Z129およびZN-Z129Eに関する基本的な情報を提供します。
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