マイクロウェーブ展 / MWE2025

マイクロウェーブ展 / MWE2025

コンポーネント評価からレーダー/EW評価まで、幅広いマイクロ波ソリューション

  • 会 期： 2025年11月26日(水) ～ 11月28日(金)
  • 時 間： 10:00 ～ 17:00
  • 会 場： パシフィコ横浜 展示ホールD ブース： A-04
  • 出展社セミナー：
    • 11月26日(水) 15:15 ～ 16:00 セミナー会場A
      「クラス最速のネットワーク・アナライザのご紹介と活用事例」
      講師：アプリケーションエンジニア 石原 篤
  • マイクロウェーブ展へのご参加には「事前参加登録 (無料)」が必要です

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展示予定ソリューション／今年の見どころ

見どころ満載！MWE2025 ローデ・シュワルツ・ブース

ブース内では、コンポーネント評価からレーダー/EW評価までの幅広いマイクロ波ソリューションを展示。信号発生器や各種アナライザからオシロスコープ、レーダーテスタまで、最新製品を多数ご覧いただけます

コンポーネント評価ソリューション

ベクトル・ネットワーク・アナライザ R&S®ZNA

高確度アクティブデバイス評価

  • ベクトル・ネットワーク・アナライザ R&S®ZNA

ミキサやアンプの高調波やスプリアスを正確に測定

ベクトル・ネットワーク・アナライザ R&S®ZNB3000

高速パッシブデバイス評価

  • ベクトル・ネットワーク・アナライザ R&S®ZNB3000

クラス最高のダイナミックレンジと高速掃引で製造ラインのスループットを最大化

ハイエンド・オシロスコープ R&S®RTP

広帯域変調アクティブロードプル

  • ベクトル信号発生器 R&S®SMW200A
  • ハイエンド・オシロスコープ R&S®RTP
  • シグナル・スペクトラム・アナライザ R&S®FSV3000

広帯域変調条件下でのインピーダンスチューニングを実現

高速マルチポート測定

高速マルチポート測定

  • ベクトル・ネットワーク・アナライザ R&S®ZNA
  • スイッチ・コントロール・プラットフォーム R&S®OSP

ミリ波で最大 64 ポートの FPC やケーブル測定を専用ソフトで高効率化

レーダー / EW 評価ソリューション

レドームテスタ R&S®QAR50

マルチチャネル信号解析

  • シグナル・スペクトラム・アナライザ R&S®FSWX

DRFM の入出力信号を同時測定し包括的評価を実現

位相雑音アナライザ/VCOテスタ R&S® FSWP

パルスド信号の位相雑音評価

  • 位相雑音アナライザ/VCOテスタ R&S® FSWP

最大 54 GHz までの残留位相雑音測定を測定器１台で実現

その他ソリューション

材料評価ソリューション

材料評価ソリューション

  • レドームテスタ R&S®QAR50

対象物に触れることなく中身を可視化

オシロスコープ R&S®MXO3

汎用測定ソリューション

  • オシロスコープ R&S®MXO3

高速、高確度、コンパクトを実現した新世代オシロスコープ

オシロスコープ R&S®MXO5

汎用測定ソリューション

  • オシロスコープ R&S®MXO5

45,000FFT/秒の高速表示で突発的なスプリアス信号解析が可能